我們的主要產(chǎn)品包括：

測量材料硬度和彈性模量的納米級、微米級儀器化壓入測試儀（納米壓痕儀, 顯微壓痕儀）； 
界定膜基結(jié)合強度、薄膜抗劃擦能力的納米級、微米級、大載荷劃痕測試儀 (Scratch tester) ； 
包括真空、高溫以及線性往復(fù)運動等選項的摩擦磨損測試儀、納米摩擦儀 (摩擦磨損試驗機 ； 
zui簡便易用的膜厚測試儀； 
用于三維成像表征材料表面形貌的原子力顯微鏡 (AFM) 和白光共聚焦顯微鏡 (Confocal Microscope) 。

Anton Paar Conscan白光共聚焦顯微鏡主要特點：
可與CSM各種微米尺度測量模塊結(jié)合使用，以分析微米級劃痕和微米級壓痕的三維表面形貌 
非接觸式測量，*無損測量 
XY大范圍掃描(使用CSM標(biāo)準(zhǔn)操作平臺) 
Z方向?qū)拻呙璺秶?(zui大范圍 400 微米) 
精確的二維輪廓，三維成像和表面粗糙度測量 
可以在透明的材料表面進(jìn)行成像 
粗糙或光滑表面成像 
Z方向zui大掃描范圍的多種選擇