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產(chǎn)品分類品牌分類
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超聲波探傷標(biāo)準(zhǔn)試塊 著色滲透探傷劑/顯像劑/滲透劑/清洗劑 磁粉檢測試塊/磁粉探傷試塊 磁粉探傷耗材 多用磁粉探傷儀 移動式磁粉探傷儀 磁粉磁軛探傷儀/磁探儀 X射線報警儀/個人計量儀 暗室紅燈/三色燈/警告燈 超聲波探傷儀/測厚儀 退磁機/線圈退磁器 冷熱觀片燈/工業(yè)評片燈 強度計/特斯拉計/高斯計 數(shù)顯黑白密度計/密度片 超聲波探傷耗材 射線探傷耗材 磁粉、磁膏、磁懸液 熒光探傷燈 高強度紫外線燈 紫外線黑光燈/LED黑光燈/熒光探傷燈 工業(yè)X光膠片 JB行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)試塊 GB國家標(biāo)準(zhǔn)試塊 焊縫自然缺陷試塊 CSK-IA超聲波試塊 超聲波檢測試塊 *標(biāo)準(zhǔn)試塊與其他*標(biāo)準(zhǔn)試塊 工業(yè)恒溫洗片機、干片機 進(jìn)口 超聲波耦合劑 其它
產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
18851-I滲透試塊
本標(biāo)準(zhǔn)的Ⅰ型試塊用于熒光和著色滲透劑系列產(chǎn)品靈敏度等級的確定
Ⅰ型試塊
Ⅰ型試塊是一套四塊電鍍鎳-鉻層的黃銅板、電鍍層的厚度分別為10um、20um、30um、50um
電鍍層厚度為10um、20um、30um的試塊，用于確定熒光滲透劑系列產(chǎn)品的靈敏度。
電鍍層為30um、50um的試塊，用于確定著色滲透劑系列產(chǎn)品的靈敏度。
Ⅰ型試塊。
試塊為矩形，標(biāo)稱尺寸，長度為（100±1）mm，寬度為（35±1）mm，厚度為（2±1）mm。
試塊的基材是黃銅板，其上電鍍鎳和鉻，電鍍層總厚度分別為（10±1）um, （20±1）um, （30±1）um, （50±1）um。
試塊上的人工缺陷為橫向裂紋，裂紋的寬度和深度比為1:20
NO. E11-1-12-25K
Date .Apr.19,2011
EISHIN KAGAKU CO.,LTD
NON-DESTRUCTIVE TESING MATERIALS,EQUIPMENTS & SYSTEMS
Test Report according to ISO 10474-3.1.B,JIS G 0415-3.1.B
Eishin Type 1 reference test blocks meet the requiements of ISO 3452-3:1998（E）,JIS Z 2343-3:2001
Manufacturer,S Inspection Certificate
This is to certify that the undermentioned product has duly been tested inspected with the following results which are proven as satisfactory
Descriptions of product
| Type 1 TP-20um | |
| Serial NO | 25K |
| Depth | 19.9um |
| Width （TARGET Value） | 1um |
Application: The Test Panels are applied to confirm the sensitivity level of the penetrat and penetrant inspection system
Safekeeping: Be careful about the coating removal and crack rise due to provide the bending mechanical and thermal energy to the Test Panel.
Test Panel after use will be reproduced with providing post cleaning and keep in an adjunct box,protective envelope or desiccator
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