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產(chǎn)品分類品牌分類
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產(chǎn)品簡介
詳細介紹
T1.T2.T3試塊，有稱對比試塊
T1試塊
對比試塊應(yīng)采用與被檢測工件材質(zhì)相同或聲學特性相近的材料，并采用相同的焊接工藝制成。其母材、熔合面和堆焊層中均不得有或等于Φ2mm平底孔當量直徑的缺陷存在。試塊堆焊層表面的形態(tài)和工作堆焊層的表面形態(tài)相同。
從堆焊層側(cè)進行檢測采用T1型試塊，母材厚度T至少應(yīng)為堆焊層厚度的2倍。
T2試塊
從母材側(cè)進行檢測采用T2型試塊，母材厚度T與被測基板的厚度差不得超過10%。如果工件厚度比較大，T2試塊的長度L應(yīng)能滿足檢測要求。
T3試塊
用于雙晶直探頭、單晶直探頭凌密度的校準。
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