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電鏡SEM高分辨率檢測(cè)標(biāo)樣
- 發(fā)布日期：
- 有效日期：
- 所 在 地：
- 產(chǎn) 地：
- 已獲點(diǎn)擊：
- 2024年12月8日
- 2025年6月8日
- 北京北京市
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【產(chǎn)品簡(jiǎn)介】
【詳細(xì)說(shuō)明】
電鏡SEM高分辨率檢測(cè)標(biāo)樣
圖象的分辨率是掃描電鏡的zui重要技術(shù)指標(biāo)，它反映儀器的綜合性能。只有綜合性能良好的儀器才能獲得具有zui小球差、色差、畸變及象散的高分辨圖象。掃描電鏡的分辨率一般由可以檢測(cè)到的zui小間距和圖象的灰度共同決定。
電鏡SEM高分辨率檢測(cè)標(biāo)樣，又稱碳基金標(biāo)樣，將金原子鍍膜在厚度約2mm的基質(zhì)上，在中高度分辨率測(cè)試中，不同大小的金粒子（<2nm-30nm）會(huì)產(chǎn)生不同的間隙。本品可用于像散校正和分辨率檢測(cè)，推薦用于放大率在50000×及以上的儀器。
訂購(gòu)信息：
貨號(hào) | 產(chǎn)品名稱 | 規(guī)格 |
79511-01 | Very High Resolution Au-C Test on 12.5mm Pin Stub | 個(gè) |
79511-02 | Very High Resolution Au-C Test on JEOL Stub | 個(gè) |
79511-03 | Very High Resolution Au-C Test on ISI Stub | 個(gè) |
79511-04 | Very High Resolution Au-C Test on Hitachi Stub | 個(gè) |
79511-05 | Very High Resolution Au-C Test on Carbon Planchet | 個(gè) |
另：金粒子的大小<1nm-20nm的碳基金標(biāo)樣，又稱SEM超高分辨率檢測(cè)標(biāo)樣，推薦用于80000×及以上的儀器。
訂購(gòu)信息：
貨號(hào) | 產(chǎn)品名稱 | 規(guī)格 |
79512-01 | Ultra High Resolution Au-C Test on 12.5mm Pin Stub | 個(gè) |
79512-02 | Ultra High Resolution Au-C Test on JEOL Stub | 個(gè) |
79512-03 | Ultra High Resolution Au-C Test on ISI Stub | 個(gè) |
79512-04 | Ultra High Resolution Au-C Test on Hitachi Stub | 個(gè) |
79512-04 | Ultra High Resolution Au-C Test on Carbon Planchet | 個(gè) |