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貨物所在地:廣東深圳市
所在地: 深圳
更新時間:2024-08-19 15:19:47
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金屬材料檢測儀器
儀器介紹:
手持式儀器資料:
伊諾斯便攜式X射線螢光光譜分析儀,有效檢的應(yīng)對有害元素檢測、合金分析、礦石分析、環(huán)境分析的產(chǎn)品,目前正服務(wù)于伊朗核查和歐美各大海關(guān)等重要部門。
Innov-X部分客戶
核查小組
大亞灣核電站
寶鋼集團
*
撫順特鋼
齊魯特鋼,
黃埔電廠
嘉興電廠
寶豐不銹鋼管
鳳凰銅管
北方管業(yè)
中國石油
中國石化
中金有色金屬
江西銅業(yè),
浙江廢舊金屬
瀘天化
銀?;?/span>
華北制藥
葛洲壩水泥
中國核動力研究院
哈飛集團
包頭坦克,
四川省煙草局
湖北省煙草局
鄭州
Delta標準型DS2000合金分析儀*性能
. 超的檢測精度度。
. 超的穩(wěn)定性,超的重復(fù)性。
. 優(yōu)異的線性相關(guān)性。
. 采用了*重新設(shè)計的射線管、無壓電源線、無 RF 噪音、更好的X射線屏蔽。
. 結(jié)構(gòu)更精密,縮短了射線管、探測器與被測樣品之間的距離,對于某些應(yīng)用信號提了~40%.
. 新的濾波輪更輕、更薄,在位置上更加接近被測樣品,具有8 個濾波器,可適應(yīng)的配置,不同的元素采用不同的濾波器,產(chǎn)生好的分析效果。
. 超過1/3的機體采用鋁合金外殼設(shè)計,儀器頂部有的槽式散熱裝置,整個體系使散熱非常有效,延長機器壽命, X射線分析儀工作更加更穩(wěn)定,從而故障率極低。
. SDD X射線探測器具有驚人的計數(shù)率,達200000,比普通的Si-Pin X射線探測器獲取數(shù)據(jù)的能力10倍。
. 可測試Mg;Al;Si;P;S等輕質(zhì)元素。
. 內(nèi)置的氣壓計可以糾正氣壓,氣壓計壓力感應(yīng), 可根據(jù)不同的壓力調(diào)整,從而是檢測值更加準確,儀器預(yù)設(shè)海平面,客戶在不同的海拔度測試,無需再次校準。
. 內(nèi)置的加速器可探測運動和震動,使儀器不用時待機,拿起時工作。
. 智能接駁座可對額外電池充電、儀器內(nèi)置電池同時充電并顯示充電進度,接駁座能連接電腦交換數(shù)據(jù),可讓儀器即時標準化,儀器隨時待命狀態(tài)。
. 儀器即使在開機狀態(tài)下也可更換電池而并不需要關(guān)機,在系統(tǒng)運作中拔掉電池,有超過30秒的時間可以插入一個新電池。
. 儀器開機并不需要標準化,可以直接測試,標準化僅僅是可選項。
. 儀器外殼采用鋁合金、塑膠設(shè)計,堅固耐用,手柄軟膠設(shè)計,手感好,更適合長時間使用。
Delta標準型DS2000合金分析儀技術(shù)性能
. 真正實現(xiàn)在現(xiàn)場進行無損,快速,準確的檢測,直接顯示元素的百分比含量。
. 只需將合金分析儀直接接觸待測合金表面,無須等待和花費時間即可現(xiàn)場確定合金等級。
. 被檢測的樣品的對象可以是合金塊、合金片、合金線、合金渣、合金粉。
. 快的分析速度, 僅需2秒鐘就可識別合金元素。
Delta標準型DS2000合金分析儀元素分析范圍
可分析從從12號元素Mg到94號元素PU之間的所有合金。
(標準型)合金分析儀器Innov-X Delta DS2000的分析模式與元素種類 | |
分析模式 | 分析元素 |
元素分析范圍 | 分析范圍:從12號元素Mg鎂到94號元素PU范圍內(nèi)的31種基本元素,在以上范圍內(nèi),可以根據(jù)客戶需要更換其他元素。 |
Alloy Beam1模式 | , V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, W, Hf, Ta, Re, Pb, Bi, Zr, Nb, Mo, Ag, Sn, Sb等21元素。 |
Alloy Beam2模式 | , V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, W, Hf, Ta, Re, Pb, Bi, Zr, Nb, Mo, Ag, Sn, Sb PLUS Mg, Al, Si, P等25元素 |
直讀光譜儀資料:
型全譜直讀光譜儀采用標準的設(shè)計和制造工藝技術(shù),應(yīng)用了的CMOS信號采集元件,每塊CMOS都可以單獨設(shè)值火花個數(shù),與光譜儀yi流技術(shù)同步,采用真空光室設(shè)計及全數(shù)字激發(fā)光源。這款CMOS光譜儀,既包含了CCD光譜儀的全譜特性,又具備PMT光譜儀對非金屬元素的極低檢出限,整機設(shè)計合理,操作簡單易學(xué),具有數(shù)據(jù),長期穩(wěn)定性好等優(yōu)點。
主要技術(shù)參數(shù)
v 波長范圍:140~680nm
v 光柵焦距:401mm
v 探 測 器:性能CMOS陣列/CCD陣列
v 放電頻率:100-1000Hz
v 放電電流:大500A
v 檢測時間:依據(jù)樣品類型而定,一般20S左右
v 分析間隙:4mm
金屬材料檢測儀器