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電鍍分析儀
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貨物所在地:廣東深圳市

地: 深圳

更新時間:2025-01-13 09:38:42

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電鍍分析儀
X熒光電鍍儀器產(chǎn)品指標(biāo):
測厚技術(shù):X射線熒光測厚技術(shù)
測試樣品種類:金屬鍍層,合金鍍層
測量下限:0.003um
測量上限:30-50um(以材料元素判定)
測量層數(shù):10層
測量用時:30-120秒

電鍍分析儀

產(chǎn)品介紹:

    新一代國產(chǎn)專業(yè)鍍層厚度檢測儀,采用分辨率的Si-PIN(或者SDD硅漂移探測器),測量精度和測量結(jié)果業(yè)界。

    電鍍分析儀采用了FlexFP-Multi技術(shù),無論是生產(chǎn)過程中的質(zhì)量控制,還是來料檢驗和材料性能檢驗中的隨機抽檢和全檢,我們都會提供友好的體驗和滿足檢測的需求。

    微移動平臺和清CCD搭配,旋鈕調(diào)節(jié)設(shè)計在殼體外部,觀察移動位置簡單方便。

    X射線熒光技術(shù)測試鍍層厚度的應(yīng)用,提了大批量生產(chǎn)電鍍產(chǎn)品的檢驗條件,無損、快速和更準(zhǔn)確的特點,對在電子和半導(dǎo)體工業(yè)中品質(zhì)的提升有了檢驗的保障。

    設(shè)計更科學(xué),軟硬件配合,機電聯(lián)動,輻射安全于國標(biāo)GBZ115-2002要求。

    軟件操作具有操作人員分級管理權(quán)限,一般操作員、主管使用不同的用戶名和密碼登陸,測試的記錄報告同時自動添加測試人的登錄名稱。

產(chǎn)品指標(biāo):

測厚技術(shù):X射線熒光測厚技術(shù)

測試樣品種類:金屬鍍層,合金鍍層

測量下限:0.003um

測量上限:30-50um(以材料元素判定)

測量層數(shù):10層

測量用時:30-120秒

探測器類型:Si-PIN電制冷

探測器分辨率:145eV

壓范圍:0-50Kv,50W

X光管參數(shù):0-50Kv,50W,側(cè)窗類;

光管靶材:Mo靶;

濾光片:3種自動切換;

CCD觀察:260萬像素

微移動范圍:XY15mm

輸入電壓:AC220V,50/60Hz

測試環(huán)境:非真空條件

數(shù)據(jù)通訊:USB2.0模式

準(zhǔn)直器:Ø1mm,Ø2mm,Ø4mm

軟件方法:FlexFP-Mult

標(biāo)準(zhǔn)配件

樣品固定支架1支

窗口支撐薄膜:100張

保險管:3支

計算機主機:品牌+雙核

顯示屏:19吋液晶

打印機:噴墨打印機

黃金,鉑,銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.
金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè);銀行,首飾銷售和檢測機構(gòu);電鍍行業(yè)。

 

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