KC-2型可控硅測試儀（全系列塑封可控硅、可控硅光耦測試儀）

　　這是一款我在2005年一月研究設(shè)計完成的實用型多功能單、雙向可控硅和可控硅光電耦合器參數(shù)的

半自動測試裝置，可以較準確的測量全系列塑封可控硅、DIP-6/4封裝的各類可控硅光電耦合器、200A以下

的螺銓型單雙向可控硅和各種封裝的可控硅模塊的基本參數(shù)，詳細的介紹請看下面。

KC-2型可控硅測試儀簡介

一、概述

　　KC-2型可控硅測試儀（又名：全系列塑封可控硅、可控硅光耦測試儀），是2005年研究設(shè)計成功的

一種新穎的數(shù)字顯示式多功能半自動可控硅和可控硅光電耦合器參數(shù)測試裝置。

　　1、它可以測量小至TO-92封裝大至TO-3P封裝的各種電流等級的塑封單、雙向可控硅（晶閘管）。

　　2、專門設(shè)計了0-1O00uA的觸發(fā)電流量程，可以直接測量MCR100-6等微安級觸發(fā)電流的可控硅。

　　3、可以測量DIP-6、DIP-4封裝的過零和非過零檢測可控硅輸出的光電耦合器和DIP-6封裝的單向可控

硅輸出的光電耦合器。

　　4、可以測量200A以下的螺銓型單、雙向可控硅和可控硅組合模塊。

　　5、測試觸發(fā)電流和觸發(fā)電壓時無需人工調(diào)節(jié)，可控硅插入測試座后儀器會自動的調(diào)節(jié)至觸發(fā)值，并穩(wěn)

定的顯示觸發(fā)電流 IGT / 觸發(fā)電壓 VGT。

　　6、測試可控硅耐壓參數(shù)時只需一次性調(diào)節(jié)好zui高輸出電壓值，以后每測一個管子只要按下高壓按鈕即

可顯示該可控硅的耐壓值。

　　該儀器主要用于可控硅使用廠家對可控硅元件的質(zhì)量檢驗、參數(shù)的配對、可控硅設(shè)備的維修之用。儀器

還可以廣泛的應(yīng)用于對多種電子元器件的高低壓耐壓的測試。儀器外型美觀、性能穩(wěn)定、測量準確、使用安

全方便。

二、主要技術(shù)性能

　　1、可控硅觸發(fā)電流IGT 測量范圍： 6—1000uA ，0—10.00mA, 0—100.0mA 精度：≤3 % 。

　　2、可控硅觸發(fā)電壓VGT測量范圍： 0—5V， 精度：≤5 % 。

　　3、可控硅光耦輸入端LED觸發(fā)電流IFT測量范圍：0—10.00mA, 0—100.0mA 精度：≤3 % 。

　　4、可控硅光耦輸入端LED觸發(fā)電壓VFT測量范圍：0—3V 精度：≤5 % 。

　　5、可控硅和可控硅光耦輸出端，正反向不重復(fù)峰值電壓VDSM/VRSM測量范圍： 0—2KV精度：≤3 % 。

　　6、可控硅和可控硅光耦輸出端，正反向重復(fù)峰值電壓VDRM/VRRM測量范圍： 0—1.6KV精度：≤5 % 。

三、主要測試功能

　　1、全系列單雙向塑封可控硅觸發(fā)電流IGT、觸發(fā)電壓VGT的測試，正反向不重復(fù)峰值電壓VDSM / VRSM

的測試，正反向重復(fù)峰值電壓VDRM / VRRM的測試。

　　2、DIP-6、DIP-4封裝的過零和非過零檢測可控硅輸出的光電耦合器和DIP-6封裝的單向可控硅輸出的

光電耦合器輸入LED端IFT / VFT的測試，輸出端可控硅正反向不重復(fù)峰值電壓VDSM / VRSM的測試，正反向

重復(fù)峰值電壓VDRM / VRRM的測試。

　　3、電流在200A以內(nèi)，VDSM / VRSM在2KV以內(nèi)，觸發(fā)電流在120mA以內(nèi)的螺銓型單、雙向可控硅和可控硅

組合模塊的觸發(fā)電壓IGT、觸發(fā)電流VGT的測試，正反向不重復(fù)峰值電壓VDSM / VRSM的測試，正反向重復(fù)峰

值電壓VDRM / VRRM的測試。

　　4、2KV以內(nèi)的各類二極管、三極管、達林頓管、整流橋、MOS場效應(yīng)管、IGBT及各種模塊的耐壓測試。

　　5、2KV以內(nèi)的壓敏電阻、穩(wěn)壓管、雙向觸發(fā)二極管等電壓值的測試。

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