Z系列:任感官自由飛揚(yáng) 帶方波技術(shù)的Z系列超聲波探傷儀集性能、快捷、專業(yè)、便攜于一身,精準(zhǔn)滿足各種苛刻需求。超越主流的性能與碩德產(chǎn)品特質(zhì)*融合,從經(jīng)歷中錘煉技巧,有勇氣挑戰(zhàn)極限。靈敏的反饋、上乘的性能,數(shù)字內(nèi)涵模擬體驗(yàn)、沒有雜波干擾的舒暢感覺,它就像您的第六感官,隨您想法而動。Z系列超聲波探傷儀更像是一款披著便攜外衣的檢測工作站,必將帶領(lǐng)您進(jìn)入檢測的更高境界。 | | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| *性能 衍射聲時技術(shù)(TOFD),二維圖像顯示,可測量缺陷高度和深度 回波編碼技術(shù)可直觀的獲得缺陷在多次回波的位置 焊縫剖面示意 美國焊接學(xué)會標(biāo)準(zhǔn)AWS D1.1/D1.5 內(nèi)置常用焊接工藝標(biāo)準(zhǔn):GB11345/JB4730 TOFD:可測缺陷高度和寬度 焊縫剖面示意 直觀分析 AWS:美國焊接學(xué)會標(biāo)準(zhǔn)AWS D1.1/D1.5 通用性能 方波激勵:適用難以穿透復(fù)合材料 國內(nèi)業(yè)界的可調(diào)方波激勵技術(shù),適用于難以穿透的各種材料。可調(diào)節(jié)選項(xiàng)的高性能“方波/脈沖發(fā)生器”,實(shí)現(xiàn)與探頭的*匹配。對于聲波衰減較厲害的復(fù)合材料,鑄件,厚板尤其有效,具有的穿透力和信噪比;而對檢測薄工件和復(fù)合材料又有高的分辨率。 窄帶濾波器組(Z) 在常規(guī)寬頻帶濾波基礎(chǔ)上增加了多個常用的窄帶濾波器,信號通過與探頭匹配的窄帶濾波器,可獲得的信噪比,從而的抑制了噪聲。(達(dá)到無雜波效果) 國內(nèi)優(yōu)先達(dá)到10位高精度AD采樣 超長待機(jī):10/20小時,擺脫充電煩惱 高亮真彩,強(qiáng)光可見,屏幕亮度5級可調(diào),節(jié)電環(huán)保 工業(yè)級寬溫硬件操作,軍工元器件,極低故障率 鎂鋁合金外殼,堅固耐用,有效防止電磁干擾 功能 U盤存儲,即插即用 USB接口可插入U盤,無需驅(qū)動,支持熱插撥,即插即用。實(shí)現(xiàn)探傷報告存儲、拷屏打印。 二維編碼B掃描 直觀顯示缺陷位置 探傷儀常用的二維色彩編碼B掃描功能。B掃描功能圖像式的觀察缺陷模式,能夠產(chǎn)生很好的對比效果,更便于缺陷的分析判斷。通過:灰度/彩色調(diào)色板還可以自動顯示缺陷危害程度,也可實(shí)時對比觀測A掃波形和B掃圖像 超大容量數(shù)據(jù)儲存:3200個數(shù)據(jù)組 探傷與高精測厚一體 5條智能DAC曲線,符合JIS和API標(biāo)準(zhǔn) 實(shí)用DGS曲線:大平底、平底孔、通孔三種參考類型 操作 常用功能一鍵直達(dá) 菜單布局合理 自動校準(zhǔn):聲速、探頭延遲、角度/K值 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
DAC曲線 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
|
| ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
|
- TESTO/德國德圖
- 其他品牌
- TIME/北京時代
- KIMO/法國凱茂
- FLUKE/福祿克
- RAE/美國華瑞
- KYORITSU/日本共立
- Phase/美國菲思圖
- AND/艾安得
- MEGGER/美國
- New Cosmos/日本新宇宙
- RIKEN/日本理研
- TES/中國臺灣泰仕
- Helmut Fischer/德國菲希爾
- OHAUS/奧豪斯
- SHIMPO/新寶
- Multi/日本萬用
- ELCOMETER/英國易高
- TeKtronix/美國泰克
- ElektroPhysik/德國EPK
- 海創(chuàng)高科
- DeFelsko/美國狄夫斯高
- SIGLENT/鼎陽
- Hitachi/日立
- Kanomax/日本
- 博世
- Faith/費(fèi)思
- HILTI/德國喜利得
- Proceq/瑞士博勢
- 德國德爾格
- Mettler Toledo/梅特勒托利多
- Bushnell/美國博士能
- Sartorius/賽多利斯
- MarCal/德國馬爾
- FLIR/菲力爾
- SENTRY/中國臺灣先馳
- 香港?,?/a>
- ROTRONIC/羅卓尼克
- RION/日本理音
- Agilent/安捷倫
- MITUTOYO/日本三豐
- OLYMPUS/奧林巴斯
- DESCO/美國
- 英思科
- Brookfield/博勒飛
- Qnix/德國尼克斯
- INFICON/美國
- OPTEX/奧普士
- BS/百試
- Kleinwachter/德國科納
- HACH/哈希
- Honeywell/霍尼韋爾
- LANDTEK/蘭泰
- KETT/日本
- Motive/中國臺灣
- CENTER/中國臺灣群特
- 泰克
- CEM/香港
- ION/英國離子
- 3nh/三恩時
- 麥科信
- FOERSTER/德國
- MINOLTA/日本柯尼卡美能達(dá)