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單晶少子壽命測試儀

參  考  價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準

產(chǎn)品型號JC03-LT-3

品       牌其他品牌

廠商性質生產(chǎn)商

所  在  地北京市

更新時間:2025-01-31 19:43:23瀏覽次數(shù):480次

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產(chǎn)地類別 國產(chǎn) 應用領域 綜合
單晶少子壽命測試儀該儀器參考美國A.S.T.M標準而設計的用于測量硅單晶的非平衡少數(shù)載流子壽命;測試單晶電阻率范圍:>0.3Ω.cm;

單晶少子壽命測試儀 硅單晶非平衡少數(shù)載流子壽命測量儀

型號JC03-LT-3

特點:

該儀器參考美國A.S.T.M標準而設計的用于測量硅單晶的非平衡少數(shù)載流子壽命;

測試單晶電阻率范圍:>0.3Ω.cm;

可測單晶少子壽命范圍:1μS-10000μS

配備光源類型:紅外光源,波長:1.09μm

余輝<1μS;閃光頻率為:20-30次/秒;

前置放大器:放大倍數(shù)約25;

測量方式:采用對標準曲線讀數(shù)方式;

單晶少子壽命測試儀 硅單晶非平衡少數(shù)載流子壽命測量儀

型號JC03-LT-3

特點:

該儀器參考美國A.S.T.M標準而設計的用于測量硅單晶的非平衡少數(shù)載流子壽命;

測試單晶電阻率范圍:>0.3Ω.cm

可測單晶少子壽命范圍:1μS-10000μS;

配備光源類型:紅外光源,波長:1.09μm;

余輝<1μS;閃光頻率為:20-30次/秒;

前置放大器:放大倍數(shù)約25;

測量方式:采用對標準曲線讀數(shù)方式;

 

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