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當前位置:北京北信科遠儀器有限責任公司>>實驗室設備>>檢測儀>> JC03-LT-3單晶少子壽命測試儀
參 考 價 | 面議 |
產(chǎn)品型號JC03-LT-3
品 牌其他品牌
廠商性質生產(chǎn)商
所 在 地北京市
更新時間:2025-01-31 19:43:23瀏覽次數(shù):480次
聯(lián)系我時,請告知來自 化工儀器網(wǎng)產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應用領域 | 綜合 |
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單晶少子壽命測試儀 硅單晶非平衡少數(shù)載流子壽命測量儀
型號JC03-LT-3
特點:
該儀器參考美國A.S.T.M標準而設計的用于測量硅單晶的非平衡少數(shù)載流子壽命;
測試單晶電阻率范圍:>0.3Ω.cm;
可測單晶少子壽命范圍:1μS-10000μS;
配備光源類型:紅外光源,波長:1.09μm;
余輝<1μS;閃光頻率為:20-30次/秒;
前置放大器:放大倍數(shù)約25;
測量方式:采用對標準曲線讀數(shù)方式;
單晶少子壽命測試儀 硅單晶非平衡少數(shù)載流子壽命測量儀
型號JC03-LT-3
特點:
該儀器參考美國A.S.T.M標準而設計的用于測量硅單晶的非平衡少數(shù)載流子壽命;
測試單晶電阻率范圍:>0.3Ω.cm;
可測單晶少子壽命范圍:1μS-10000μS;
配備光源類型:紅外光源,波長:1.09μm;
余輝<1μS;閃光頻率為:20-30次/秒;
前置放大器:放大倍數(shù)約25;
測量方式:采用對標準曲線讀數(shù)方式;
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