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測(cè)試材料孔徑的方法有多種,氮吸附法,壓汞法,泡壓法等。但是測(cè)試膜的孔徑的方法是使用泡壓法(氣液驅(qū)排法)進(jìn)行測(cè)試。原因如下:
一、氮吸附法的缺點(diǎn)
1、孔徑范圍:0.35-500nm,對(duì)于微米級(jí)別的孔無(wú)法測(cè)試。
2、隔膜的氮吸附也是會(huì)有很大的誤差的,原因是隔膜的內(nèi)外表面平滑,比表面小,吸附量小,因此誤差很大。
3、隔膜材料中通孔的孔喉直徑(即通孔zui窄處的直徑)是zui關(guān)鍵,zui重要的,而氮吸附測(cè)試的是材料的通孔和盲孔,所以孔徑測(cè)試誤差會(huì)很大。
二、壓汞法的缺點(diǎn)
1、孔徑范圍:50nm-500um;如果想測(cè)試較小孔徑,如100nm以下,需要非常大的壓力(20MPa以上)才能把汞注入材料孔道內(nèi),這樣大的壓力是一般材料承受的,在高壓下,膜材料的孔結(jié)構(gòu)會(huì)變形甚至壓垮,致使結(jié)果偏離理論值;但是對(duì)于泡壓法,對(duì)材料施加的壓力要小得多,一般在0.1MPa以下。
2、同氮吸附一樣,壓汞法測(cè)試的也是通孔和盲孔,而非孔喉處的直徑
三、泡壓法
1、測(cè)試孔徑范圍是10nm-500um;
2、測(cè)試的是通孔的孔喉處的直徑(zui小孔徑)、zui大孔徑、平均孔徑、孔徑分布及滲透率;
3、測(cè)試原理適用于測(cè)試膜材料通孔孔徑
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