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MC-2000C -涂鍍層測(cè)厚儀|MC-2000C|
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更新時(shí)間:2024-08-08 21:00:06

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(1).測(cè)量: 單探頭全量程測(cè)厚(2).存儲(chǔ): 可存入測(cè)量數(shù)據(jù)254個(gè)(3).讀:   讀出已存入測(cè)量數(shù)據(jù)(4).校正: 隨機(jī)標(biāo)準(zhǔn)試片校正(5).打印: 選配微型打印機(jī)(6).背光: 采用*EL自動(dòng)背光MC-2000C 涂鍍層測(cè)厚儀

MC-2000C 涂鍍層測(cè)厚儀
的詳細(xì)介紹
MC-2000C型涂(鍍)層測(cè)厚儀是技術(shù)的結(jié)晶,它采用單片機(jī)技術(shù),精度高、數(shù)字顯示、示值穩(wěn)定、功耗低、操作簡(jiǎn)單方便、無校正旋鈕、單探頭全量程測(cè)量、體積小、重量輕;且具有存儲(chǔ)、讀出、低電壓指示、其性能達(dá)到當(dāng)代同類儀器的*水平。
  MC-2000C涂(鍍)層測(cè)厚儀的詳細(xì)資料:
 
二、應(yīng)用范圍:
本儀器采用磁性測(cè)厚法,可以方便無損地測(cè)量鐵磁材料上非磁性涂層的厚度,如鋼鐵表面上的鋅、銅、鉻等鍍層或油漆、搪瓷、玻璃鋼、噴塑、瀝青等涂層的厚度。該儀器廣泛應(yīng)用于機(jī)械、汽車、造船、石油、化工、電鍍、噴塑、搪瓷、塑料等行業(yè)。
三、工作原理
 MC--2000C型涂(鍍)層測(cè)厚儀采用電磁感應(yīng)法測(cè)量涂(鍍)層的厚度。位于部件表面的探頭產(chǎn)生一個(gè)閉合的磁回路,隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變,該磁回路將不同程度的改變,引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以精確地測(cè)量探頭與鐵磁性材料間的距離,即涂(鍍)層厚度。
四、技術(shù)參數(shù)
       1、測(cè)量范圍:  0~5000μm
       2、測(cè)量誤差:  <3%±1μm
       3、zui小示值:  1μm
4、顯示方式:   4位液晶數(shù)字顯示
5、主要功能:
  (1).測(cè)量:    單探頭全量程測(cè)厚
  (2).存儲(chǔ):    可存入測(cè)量數(shù)據(jù)254個(gè)
  (3).讀:   讀出已存入測(cè)量數(shù)據(jù)
  (4).校正:          隨機(jī)標(biāo)準(zhǔn)試片校正
  (5).打?。?span>        選配微型打印機(jī)
  (6).背光:        采用*EL自動(dòng)背光
  (7).關(guān)機(jī):     zui后一次測(cè)量后8分鐘左右自動(dòng)關(guān)機(jī)
6、電源:    3.6v充電電池
7、功耗:    zui大功耗100mw
8、外形盡寸:   50 *95 *24mm3
9、重量:     90g
10、使用環(huán)境溫度: 0℃~+40℃ 相對(duì)濕度:不大于90%
11、基體zui小厚度:   0.2mm
12、基體zui小平面:   7mm
13、zui小曲率半徑:    凸:1.5mm     凹:6mm
14、欠電壓指示:       左下角顯示"欠"

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