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膜厚測量儀是如何測量的?從儀器的工作原理中找到答案

閱讀:2418      發(fā)布時(shí)間:2022-6-24
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   不少專業(yè)人士對(duì)膜厚測量儀肯定不會(huì)感到陌生吧,它主要是用來測量材料及物體厚度的儀表,采用機(jī)械接觸式測量方式,嚴(yán)格符合標(biāo)準(zhǔn)要求,有效保證了測試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。專業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。
  
  膜厚怎么測量?
  基體表面鍍膜或氣相沉膜是材料表面工程中的重要技術(shù),膜的厚度直接影響其性能,故需對(duì)其進(jìn)行有效測量。目前常用的膜厚測量方法主要有磁性法、渦流法、超聲波測厚法等。其中渦流膜厚測量儀,由于采用了單一渦流法的渦流涂層測厚儀可以實(shí)現(xiàn)無損地測量非磁性金屬基材上的各種非導(dǎo)電覆蓋層的厚度,如油漆,橡膠,塑料,陽極氧化膜等,常應(yīng)用于測量航空器,船舶,汽車,門窗以及各種鋁制品表面的涂層,陽極氧化層還有油漆的厚度。
  
  工作原理:
  物質(zhì)在被一定波長的X射線照射時(shí),元素將處于激發(fā)狀態(tài)而發(fā)射出光子,形成一種特征X熒光射線。每一種元素的能量都是一一對(duì)應(yīng)的,探測器在接收到元素的特征X熒光射線之后,可以通過其中的光子能量進(jìn)行定性分析,還可通過其中的光子量值進(jìn)行定量分析。
  由于各個(gè)元素的特征X射線能量恒定,和元素有一一對(duì)應(yīng)的關(guān)系,所以我們可以根據(jù)所得到的特征X熒光射線能量,對(duì)被檢物進(jìn)行定性分析。通過檢測到的光子數(shù)量,可以對(duì)被測物進(jìn)行定量分析。
  1、涂覆層成分及厚度分析:對(duì)多層精準(zhǔn)測試:多層合金、上下元素重復(fù)鍍層、輕元素和有機(jī)物涂鍍層及滲層的厚度及成分分析;
  2、環(huán)保檢測解決方案:對(duì)各種重金屬及有害元素進(jìn)行檢測,測試檢出限可達(dá)1ppm以下;
  3、全元素成分分析:可對(duì)各種合金、礦石、土壤、珠寶首飾等等進(jìn)行元素成分分析。

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