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電化學(xué)分析儀特點(diǎn)及參數(shù)

時(shí)間：2013/8/26閱讀：2449
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 電化學(xué)分析儀特點(diǎn)
1.上下限報(bào)警點(diǎn)能在全量程范圍內(nèi)任意設(shè)置。
2.具有0～10或4～20mA，報(bào)警觸點(diǎn)等信號(hào)輸出。
3.儀器可有一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的RS485通訊口，可以連接串口打印機(jī)或與計(jì)算機(jī)實(shí)現(xiàn)雙向通訊。
4.選用進(jìn)口傳感器和特殊材料檢測(cè)元件，壽命長(zhǎng)、反映快。
5.全中文液晶顯示，多級(jí)中文菜單
6.量程可自由設(shè)定

電化學(xué)分析儀參數(shù)
LabNet系列
技術(shù)參數(shù)：
控制電位: ±3.2V 
zui大電流: ±50mA 
槽壓: ±12V 
參比電極輸入阻抗: >1012Ω 
zui大掃描速度: 4000mV/S 
zui小掃描速度: 2.5×10-5mV/S 
電流靈敏度量程: ±50mA、±5mA、±500uA、±50uA、±5uA、±500nA 
電位分辨率: 1mV 
電流分辨率: 15pA 
儀器尺寸: 28cm×30cm×10cm （寬×深×高） 
儀器重量: 約2 Kg 
分析技術(shù): 
恒電位循環(huán)伏安法（CV）、線性掃描伏安法（LSV）、線性掃描溶出伏安法、 
電流-時(shí)間曲線（I-T）、計(jì)時(shí)電流法（CA）、計(jì)時(shí)電量法（CC）、 
掃描階躍混合方法（SSF）、多電位階躍方法（STEP）、Tafel圖（TAFEL） 
恒電流計(jì)時(shí)電流法（CP）、電流掃描計(jì)時(shí)電流法（CPCR）、 
多電流階躍方法（ISTEP）、電位溶出分析（PSA）、電位-時(shí)間曲線（E-T）、 
開(kāi)路電壓-時(shí)間曲線（OCPT）、微分電位溶出分析（DPSA） 
 

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