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X射線熒光光譜儀的優(yōu)點介紹
閱讀：3483 發(fā)布時間：2018-6-25
X射線熒光光譜儀具有重現(xiàn)性好，測量速度快，靈敏度高的特點。能分析B(5)～U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對象，適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業(yè)樣品。特別是在RoHS檢測領(lǐng)域應(yīng)用得多也廣泛。
X射線熒光光譜儀的優(yōu)點：
1) 分析速度快。測定用時與測定精密度有關(guān)，但一般都很短，10～300秒就可以測完樣品中的全部待測元素。
2) X射線熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān)，而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒有關(guān)系。（氣體密封在容器內(nèi)也可分析）但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線范圍內(nèi)，這種效應(yīng)更為顯著。波長變化用于化學(xué)位的測定 。
3) 非破壞分析。在測定中不會引起化學(xué)狀態(tài)的改變，也不會出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復(fù)多次測量，結(jié)果重現(xiàn)性好。
4) X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進行分析。
5) 分析精密度高。目前含量測定已經(jīng)達到ppm級別。
6) 制樣簡單，固體、粉末、液體樣品等都可以進行分析。
EDX-1800能量色散X射線熒光光譜儀應(yīng)用于RoHS & WEEE指令分析、各種金屬膜厚度測量、工業(yè)鍍層厚度測量、鹵素指令Cl元素分析、礦石、原材料成份分析等、磁性磁性介質(zhì)和半導(dǎo)體以及各種合金、貴金屬成份分析.