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鍍層厚度測(cè)試儀的測(cè)量原理和產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)介紹

閱讀：738 發(fā)布時(shí)間：2023-1-12

　　鍍層厚度測(cè)試儀的測(cè)量原理：

　　本儀器采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法，可無損地測(cè)量磁性金屬基體上非磁性涂蓋層的厚度及非磁性金屬基體上非導(dǎo)電涂蓋層的厚度。

　　磁性法（F型測(cè)頭）

　　當(dāng)測(cè)頭與涂蓋層接觸時(shí)，測(cè)頭和磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路，由于非磁性涂蓋層的存在，使磁路磁阻變化，通過測(cè)量其變化可導(dǎo)出涂蓋層的厚度。

　　渦流法（N型測(cè)頭）

　　利用高頻交變電流在線圈中產(chǎn)生一個(gè)電磁場(chǎng)，當(dāng)測(cè)頭與涂蓋層接觸時(shí)，金屬基體上產(chǎn)生電渦流，并對(duì)測(cè)頭中的線圈產(chǎn)生反饋?zhàn)饔?，通過測(cè)量反饋?zhàn)饔玫拇笮】蓪?dǎo)出涂蓋層的厚度。

　　鍍層厚度測(cè)試儀的產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)：

　　1、可進(jìn)行未知標(biāo)樣掃描、無標(biāo)樣定性，半定量分析。

　　2、操作簡(jiǎn)單、易學(xué)易懂、精準(zhǔn)無損、高品質(zhì)、高性能、高穩(wěn)定性，快速出檢測(cè)結(jié)果。

　　3、可針對(duì)客戶個(gè)性化要求量身定做輔助分析配置硬件。

　　4、鍍層檢測(cè)，鍍層檢測(cè)可達(dá)5層，精度及穩(wěn)定性高。

　　5、激光定位和自動(dòng)多點(diǎn)測(cè)量功能。

　　6、可檢測(cè)固體、粉末狀態(tài)材料。

　　7、運(yùn)行及維護(hù)成本低、無易損易耗品，對(duì)使用環(huán)境相對(duì)要求低。

　　鍍層厚度測(cè)試儀的產(chǎn)品特點(diǎn)：

　　觸控彩色液晶屏，微電腦控制，自動(dòng)分組統(tǒng)計(jì)值、平均值。

　　旋轉(zhuǎn)角度位移實(shí)時(shí)顯示，保證測(cè)量準(zhǔn)確回位。

　　滿足玻璃瓶底厚和壁厚兩種測(cè)試方式。