產(chǎn)品分類(lèi)品牌分類(lèi)
-
儀器設(shè)備配件 多功能制(冷濾點(diǎn))測(cè)定儀 潤(rùn)滑油銹蝕/腐蝕測(cè)定儀 凝點(diǎn)傾點(diǎn)測(cè)定儀 全自動(dòng)開(kāi)口閃點(diǎn)測(cè)定儀 潤(rùn)滑脂腐蝕測(cè)定儀 潤(rùn)滑脂和石油脂錐入度測(cè)定儀 自動(dòng)水溶性酸測(cè)定儀 泡沫特性測(cè)定儀 介質(zhì)損耗因素及電阻率測(cè)定儀 潤(rùn)滑脂滴點(diǎn)測(cè)定儀 石油產(chǎn)品抗/破乳化測(cè)定儀 自動(dòng)酸值測(cè)定儀 自動(dòng)餾程測(cè)定儀 石油產(chǎn)品密度測(cè)定儀 石油產(chǎn)品機(jī)械雜質(zhì)含量自動(dòng)測(cè)定儀 全自動(dòng)低溫運(yùn)動(dòng)粘度測(cè)定儀 全自動(dòng)運(yùn)動(dòng)粘度測(cè)定儀 全自動(dòng)閉口閃點(diǎn)測(cè)定儀 潤(rùn)滑脂寬溫度范圍滴點(diǎn)測(cè)定儀 介電強(qiáng)度測(cè)定儀 界面張力測(cè)定儀 水分測(cè)定儀 石油產(chǎn)品色度測(cè)定儀 微量水分自動(dòng)測(cè)定儀 自動(dòng)錐入度測(cè)定儀 潤(rùn)滑油氧化安定性自動(dòng)測(cè)定儀
介質(zhì)損耗因數(shù)的介質(zhì)損耗
閱讀:1968 發(fā)布時(shí)間:2016-7-19
介質(zhì)損耗因數(shù)的介質(zhì)損耗
1、介質(zhì)損耗
什么是介質(zhì)損耗:絕緣材料在電場(chǎng)作用下,由于介質(zhì)電導(dǎo)和介質(zhì)極化的滯后效應(yīng),在其內(nèi)部引起的能量損耗。也叫介質(zhì)損失,簡(jiǎn)稱(chēng)介損。
2、介質(zhì)損耗角δ
在交變電場(chǎng)作用下,電介質(zhì)內(nèi)流過(guò)的電流相量和電壓相量之間的夾角(功率因數(shù)角Φ)的余角(δ)。 簡(jiǎn)稱(chēng)介損角。
3、介質(zhì)損耗正切值tgδ
又稱(chēng)介質(zhì)損耗因數(shù),是指介質(zhì)損耗角正切值,簡(jiǎn)稱(chēng)介損角正切。介質(zhì)損耗因數(shù)的定義如下:


如果取得試品的電流相量和電壓相量,則可以得到如下相量圖:


總電流可以分解為電容電流Ic和電阻電流IR合成,因此:


這正是損失角δ=(90°-Φ)的正切值。因此現(xiàn)在的數(shù)字化儀器從本質(zhì)上講,是通過(guò)測(cè)量δ或者Φ得到介損因數(shù)。 測(cè)量介損對(duì)判斷電氣設(shè)備的絕緣狀況是一種傳統(tǒng)的、十分有效的方法。絕緣能力的下降直接反映為介損增大。進(jìn)一步就可以分析絕緣下降的原因,如:絕緣受潮、絕緣油受污染、老化變質(zhì)等等。測(cè)量介損的同時(shí),也能得到試品的電容量。如果多個(gè)電容屏中的一個(gè)或幾個(gè)發(fā)生短路、斷路,電容量就有明顯的變化,因此電容量也是一個(gè)重要參數(shù)。
4、功率因數(shù)cosΦ功率因數(shù)是功率因數(shù)角Φ的余弦值,意義為被測(cè)試品的總視在功率S中有功功率P所占的比重。功率因數(shù)的定義如下:

4、功率因數(shù)cosΦ功率因數(shù)是功率因數(shù)角Φ的余弦值,意義為被測(cè)試品的總視在功率S中有功功率P所占的比重。功率因數(shù)的定義如下:

有的介損測(cè)試儀習(xí)慣顯示功率因數(shù)(PF:cosΦ),而不是介質(zhì)損耗因數(shù)(DF:tgδ)。一般cosΦ<tgδ,在損耗很小時(shí)這兩個(gè)數(shù)值非常接近。
5、高壓電容電橋高壓電容電橋的標(biāo)準(zhǔn)通道輸入標(biāo)準(zhǔn)電容器的電流、試品通道輸入試品電流。通過(guò)比對(duì)電流相位差測(cè)量tgδ,通過(guò)出比電流幅值測(cè)量試品電容量。因此用電橋測(cè)量介損還需要攜帶標(biāo)準(zhǔn)電容器、升壓PT和調(diào)壓器。接線(xiàn)也十分煩瑣。
6、高壓介質(zhì)損耗測(cè)量?jī)x 簡(jiǎn)稱(chēng)介損儀,是指采用電橋原理,應(yīng)用數(shù)字測(cè)量技術(shù),對(duì)介質(zhì)損耗角正切值和電容量進(jìn)行自動(dòng)測(cè)量的一種新型儀器。一般包含高壓電橋、高壓試驗(yàn)電源和高壓標(biāo)準(zhǔn)電容器三部分。 AI-6000利用變頻抗干擾原理,采用傅立葉變化數(shù)字波形分析技術(shù),對(duì)標(biāo)準(zhǔn)電流和試品電流進(jìn)行計(jì)算,抑制*力強(qiáng),測(cè)量結(jié)果準(zhǔn)確穩(wěn)定。
7、外施使用外部高壓試驗(yàn)電源和標(biāo)準(zhǔn)電容器進(jìn)行試驗(yàn),對(duì)介損儀的示值按一定的比例關(guān)系進(jìn)行計(jì)算得到測(cè)量結(jié)果的方法。
8、內(nèi)施使用介損儀內(nèi)附高壓電源和標(biāo)準(zhǔn)器進(jìn)行試驗(yàn),直接得到測(cè)量結(jié)果的方法。
9、正接線(xiàn)用于測(cè)量不接地試品的方法,測(cè)量時(shí)介損儀測(cè)量回路處于地電位。
10、反接線(xiàn)用于測(cè)量接地試品的方法,測(cè)量時(shí)介損儀測(cè)量回路處于高電位,他與外殼之間承受全部試驗(yàn)電壓。
11、常用介損儀的分類(lèi)現(xiàn)常用介損儀有西林型和M型兩種,QS1和AI-6000為西林型。
12、常用抗干擾方法 在介質(zhì)損耗測(cè)量中常見(jiàn)抗干擾方法有三種: 倒相法、移相法和變頻法。AI-6000采用變頻法抗干擾,同時(shí)支持倒相法測(cè)量。
13、準(zhǔn)確度的表示方法tgδ:±(1%D+0.0004) Cx:±(1%C+1pF) +前表示為相對(duì)誤差,+后表示為誤差。相對(duì)誤差小表示儀器的量程線(xiàn)性度好,誤差小表示儀器的誤差起點(diǎn)低。校驗(yàn)時(shí)讀數(shù)與標(biāo)準(zhǔn)值的差應(yīng)小于以上準(zhǔn)確度,否則就是超差。
14、抗干擾指標(biāo)抗干擾指標(biāo)為滿(mǎn)足儀器準(zhǔn)確度的前提下,干擾電流與試驗(yàn)電流的zui大比例,比例越大,抗干擾性能越好。AI-6000在200%干擾(即I干擾/ I試品≤2)下仍能達(dá)到上述準(zhǔn)確度。
5、高壓電容電橋高壓電容電橋的標(biāo)準(zhǔn)通道輸入標(biāo)準(zhǔn)電容器的電流、試品通道輸入試品電流。通過(guò)比對(duì)電流相位差測(cè)量tgδ,通過(guò)出比電流幅值測(cè)量試品電容量。因此用電橋測(cè)量介損還需要攜帶標(biāo)準(zhǔn)電容器、升壓PT和調(diào)壓器。接線(xiàn)也十分煩瑣。
6、高壓介質(zhì)損耗測(cè)量?jī)x 簡(jiǎn)稱(chēng)介損儀,是指采用電橋原理,應(yīng)用數(shù)字測(cè)量技術(shù),對(duì)介質(zhì)損耗角正切值和電容量進(jìn)行自動(dòng)測(cè)量的一種新型儀器。一般包含高壓電橋、高壓試驗(yàn)電源和高壓標(biāo)準(zhǔn)電容器三部分。 AI-6000利用變頻抗干擾原理,采用傅立葉變化數(shù)字波形分析技術(shù),對(duì)標(biāo)準(zhǔn)電流和試品電流進(jìn)行計(jì)算,抑制*力強(qiáng),測(cè)量結(jié)果準(zhǔn)確穩(wěn)定。
7、外施使用外部高壓試驗(yàn)電源和標(biāo)準(zhǔn)電容器進(jìn)行試驗(yàn),對(duì)介損儀的示值按一定的比例關(guān)系進(jìn)行計(jì)算得到測(cè)量結(jié)果的方法。
8、內(nèi)施使用介損儀內(nèi)附高壓電源和標(biāo)準(zhǔn)器進(jìn)行試驗(yàn),直接得到測(cè)量結(jié)果的方法。
9、正接線(xiàn)用于測(cè)量不接地試品的方法,測(cè)量時(shí)介損儀測(cè)量回路處于地電位。
10、反接線(xiàn)用于測(cè)量接地試品的方法,測(cè)量時(shí)介損儀測(cè)量回路處于高電位,他與外殼之間承受全部試驗(yàn)電壓。
11、常用介損儀的分類(lèi)現(xiàn)常用介損儀有西林型和M型兩種,QS1和AI-6000為西林型。
12、常用抗干擾方法 在介質(zhì)損耗測(cè)量中常見(jiàn)抗干擾方法有三種: 倒相法、移相法和變頻法。AI-6000采用變頻法抗干擾,同時(shí)支持倒相法測(cè)量。
13、準(zhǔn)確度的表示方法tgδ:±(1%D+0.0004) Cx:±(1%C+1pF) +前表示為相對(duì)誤差,+后表示為誤差。相對(duì)誤差小表示儀器的量程線(xiàn)性度好,誤差小表示儀器的誤差起點(diǎn)低。校驗(yàn)時(shí)讀數(shù)與標(biāo)準(zhǔn)值的差應(yīng)小于以上準(zhǔn)確度,否則就是超差。
14、抗干擾指標(biāo)抗干擾指標(biāo)為滿(mǎn)足儀器準(zhǔn)確度的前提下,干擾電流與試驗(yàn)電流的zui大比例,比例越大,抗干擾性能越好。AI-6000在200%干擾(即I干擾/ I試品≤2)下仍能達(dá)到上述準(zhǔn)確度。