恒溫恒濕試驗(yàn)箱咨詢(xún)勤卓

恒溫恒濕試驗(yàn)箱咨詢(xún)勤卓測(cè)試區(qū)尺寸 40 x50 x40,50 x60 x50,50 x60 x50,50 x75 x60,60 x85 x80,100 x100 x100 （W x H x D CM ） （可按客戶(hù)要求定做更大尺寸）

二 .恒溫恒濕試驗(yàn)箱 測(cè)試范圍:（依目錄之溫濕度比對(duì)圖形為主）
1.溫度:-７０℃ ～150℃, -4０℃ ～150℃ , - 2０℃ ～150℃（內(nèi)選）
2.濕度: 20% ～ 98% RH

三 . 升降溫速率:
1.常溫-> 150℃ 約 40 分鐘,升溫速度大于每分鐘一度
2.常溫-> -50 ℃ 約 50 分鐘,降溫速度大于每分鐘一度

四 . 恒溫恒濕試驗(yàn)箱機(jī)器精度:
1.解析精度:
溫 度: &plsmn;0.2℃
濕 度: &plsmn;2.5%
2.控制精度:
溫 度:（+/-） 0.5
濕 度:（+/-） 3%RH
3,顯示分辨率:
溫 度: 0.1℃
濕 度: 0.1%RH
時(shí) 間: 0.1min
3,分布均勻度
溫度 : ≤&plsmn;1℃。
濕度: ≤ &plsmn;2.5%RH（濕度 ＞ 75%RH） ≤&plsmn;4.5%RH （濕度 ≤75%RH）。

恒溫恒濕試驗(yàn)箱咨詢(xún)勤卓

試驗(yàn)箱執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)

1. GB2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫

2. GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫

3. GJB150.3A－2009            高溫試驗(yàn)方法

4. GJB150.4A－2009             低溫試驗(yàn)方法

5. GB2423.22-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Nb：規(guī)定溫度變化速率的溫度變化

6. GBT 2424.5-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 溫度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)

7.GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件