當前位置:上海銀澤儀器設備有限公司>>光學儀器>>測量儀>> C84-III反射率測定儀
一、反射率測定儀C84-III產品簡介:
該機可用于漆膜遮蓋力的測定和反射率的測量。
二、反射率測定儀C84-III技術指標:
測量范圍:0-100
重復精度:0.3%
顯示數(shù)據與反射光強度成正比
儀器的光譜靈敏度近似等于Sc(λ)與y(λ)的乘機
環(huán)境溫度:23℃+/-5℃,相對濕度<85%
輸入電源:220V+/-10%50Hz
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