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產(chǎn)品簡介
WQL粒度儀應(yīng)用范圍：
儀器基于固體顆粒的離心沉降和光透射原理測定顆粒的粒度大小及分布，采用變速測定方式，使1次測量的粒度范圍比大于20:1。
儀器基于固體顆粒的離心沉降和光透射原理測定顆粒的粒度大小及分布，采用變速測定方式，使1次測量的粒度范圍比大于20:1。
詳細(xì)介紹
WQL粒度儀應(yīng)用范圍：
儀器基于固體顆粒的離心沉降和光透射原理測定顆粒的粒度大小及分布，采用變速測定方式，使1次測量的粒度范圍比大于20:1。
WQL粒度儀性能指標(biāo)：
轉(zhuǎn)速范圍：600～10000r/min
光信號穩(wěn)定性：0.2%/30min
可測粒度范圍：0.01～60μm
測試準(zhǔn)確度：5％ （使用原上海測試技術(shù)研究院所提供的二氧化硅標(biāo)樣）
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