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[供應(yīng)]SZ-100 動態(tài)光散射納米顆粒分析儀

貨物所在地：國外

產(chǎn)地：日本

更新時間：2024-12-11 21:00:06

有效期：2024年12月11日 -- 2025年6月11日

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同臺儀器可測三種參數(shù)； 樣品濃度Z大可達(dá)40%；樣品量??；*的樣品池設(shè)計(jì)Z小化電滲效應(yīng)；軟件操作簡單功能強(qiáng)大，一鍵測量

 

粒徑測量原理：動態(tài)光散射法（光子相關(guān)光譜法）

粒徑測定范圍：0.3nm ～ 8μm

粒徑測量精度：±2%（NIST 可溯源標(biāo)準(zhǔn)粒子100nm）

Zeta 電位測量原理：激光多普勒電泳法

Zeta 電位測量范圍：-200 mV ～ +200 mV

分子量測量原理：Debye plot

分子量測量范圍：1000 ～ 2×107 Da

測量角度：90° 和173°（可自動或手動選擇）

樣品量：12μL ～ 1000μL

 

產(chǎn)品特點(diǎn)

 

· 同臺儀器可測三種參數(shù)

· 樣品濃度zui大可達(dá)40%

· 樣品量小

· *的樣品池設(shè)計(jì)zui小化電滲效應(yīng)

· 軟件操作簡單功能強(qiáng)大，一鍵測量

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