您好, 歡迎來到化工儀器網(wǎng)

| 注冊| 產(chǎn)品展廳| 收藏該商鋪

13820986935

technology

首頁   >>   技術(shù)文章   >>   紫外近紅應(yīng)用-薄膜測量

天津市拓普儀器有限公司

立即詢價

您提交后，專屬客服將第一時間為您服務(wù)

紫外近紅應(yīng)用-薄膜測量

閱讀：3616      發(fā)布時間：2014-8-20
分享：

實驗三  紫外可見反射薄膜測量

目的：研究薄膜的光學(xué)透射性能

檢測:不同金屬薄膜在紫外可見近紅外的光譜  

原理：研究薄膜的光學(xué)透射性能以及均勻性

試驗方法：

采用紫外可見近紅外分光光度計中波長掃描方式，做基線，后測定樣品

測定出不同的金屬氧化物薄膜在紫外可見區(qū)光學(xué)性能不同

圖表 1 不同位置反射率

 

會員登錄

請輸入賬號

請輸入密碼

=

請輸驗證碼

收藏該商鋪

標(biāo)簽：
保存成功

(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)

常用：

提示

您的留言已提交成功！我們將在第一時間回復(fù)您~
在線留言