Keysight推出的81610A 具有以下特點：
• 用于回波損耗（RL）測試的單個模塊
• 75 dB 寬動態(tài)范圍
• 波長為 1310 nm 和 1550 nm 的內(nèi)置 FP 激光源
• 使用外部激光源，包括用于掃描 RL 應(yīng)用的可調(diào)激光源
• 三個簡單的校準步驟可以提高測試精度
用于RL測量的即插即用驅(qū)動程序
便攜性、經(jīng)濟高效性、單臺主機、單個模塊以及與被測器件實現(xiàn)單次連接，所有這一切即可滿足您進行回波損耗（RL）測量。是德科技回波損耗測試解決方案可以簡化復雜的校準操作，并且能夠避免在測試設(shè)計中使用外置耦合器/濾波器來降低測量不確定度。另外，波長為 1310 nm 和 1550 nm 的內(nèi)置FP激光源可支持基本元件測試。
滿足制造要求
與光功率計結(jié)合使用（靈活的光探頭效果更佳），RL 模塊可滿足光器件 IL 和 RL 測試要求。板上應(yīng)用軟件提供逐步操作指導。
通過可調(diào)激光源進行掃描 RL 測量
使用可調(diào)激光源不僅可以在單一波長上表征現(xiàn)有的無源器件，也可以在寬波長范圍中進行表征。只要通過回損和可調(diào)激光源模塊的同步，就可以采用波長掃描進行 RL 測量。N7700A-100 PDL 軟件支持回波損耗模塊。
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