產(chǎn)品概述:
Microsemi公司的5120A/5125A系列相位噪聲及艾倫偏差(ADEV)測(cè)試儀,采用超低噪底,準(zhǔn)確、高速的數(shù)模轉(zhuǎn)化器,無(wú)需外部校準(zhǔn)。全數(shù)字一體化設(shè)計(jì),一次按鍵便可開始測(cè)量,幾秒鐘后測(cè)試數(shù)據(jù)便出現(xiàn)在高分辨率顯示屏上。
5120A/5125A采用了創(chuàng)新的互相關(guān)技術(shù),交叉關(guān)聯(lián)雙通道的離散傅里葉變換,抵消了系統(tǒng)本身的噪聲,更好的估算輸入信號(hào)的噪聲,從而獲得更精確的測(cè)量結(jié)果。
5120A可選擇增添內(nèi)部振蕩器選項(xiàng)(-01選項(xiàng)),無(wú)需外部參考源,獨(dú)立完成測(cè)量。5125A將測(cè)量頻率范圍擴(kuò)展到400MHz,應(yīng)對(duì)更廣泛的測(cè)試、測(cè)量需求。
主要特征:
相位噪聲和艾倫方差同時(shí)測(cè)量
頻率范圍:5120A:1-30MHz,5125A:1-400MHz
支持被測(cè)信號(hào)和參考源使用不同的頻率值
無(wú)需校準(zhǔn),一鍵開始,幾秒鐘后實(shí)時(shí)顯示數(shù)據(jù)
艾倫方差測(cè)量超過(guò)300天
相位噪聲測(cè)量接近0.1mHz
實(shí)時(shí)顯示內(nèi)部噪聲
通過(guò)網(wǎng)口遠(yuǎn)程管理和數(shù)據(jù)采集
技術(shù)規(guī)格: