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怎樣進(jìn)行Tafel曲線測(cè)試和分析？
閱讀：783 發(fā)布時(shí)間：2022-5-5| 提 供 商 | 環(huán)球君業(yè)（北京)科技有限公司 | 資料大小 | 1.3MB |
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怎樣進(jìn)行Tafel曲線測(cè)試和分析？
1. 選擇 LSV方法 （Linear Sweep Voltammetry）
2.設(shè)定下列測(cè)試參數(shù)：相對(duì)于開(kāi)路電位，極化電壓掃描范圍為-300mV到+300mV，掃描速度為1mV/s。
3.數(shù)據(jù)分析：用 Zahner Analysis 分析軟件打開(kāi)LSV數(shù)據(jù)，Plot Presets 設(shè)置數(shù)據(jù)顯示方式為log I vs U
方法（1）：Tafel Slope Analysis