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數顯薄膜測厚儀

參  考  價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準

產品型號CHY-U

品       牌

廠商性質生產商

所  在  地濟南市

更新時間:2024-05-25 19:27:57瀏覽次數:2242次

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數顯薄膜測厚儀主要用于測定薄膜、薄片等材料的厚度,測量范圍寬、測量誤差高,具有數據輸出、任意位置置零、公英制轉換、自動斷電等特點。

三泉中石

數顯薄膜測厚儀  CHY-U

適用于2mm范圍內各種硬質和軟質材料厚度精確測量。

數顯薄膜測厚儀 產品應用

薄膜   塑料復合膜   紙張   片材   金屬片

技術特征

★微電腦控制、大液晶顯示

★專業(yè)高精度傳感器,保證了測試誤差

★嚴格按照標準設計的接觸面積和測量壓力,同時支持各種非標定制

★測量頭自動升降,避免了人為因素造成的系統(tǒng)誤差

★手動、自動雙重測量模式,更方便客戶選擇

★配備微型打印機,數據實時顯示、自動統(tǒng)計、打印,方便快捷地獲取測試結果

★打印zui大值、zui小值、平均值及每次測量結果,方便用戶分析數據

★儀器自動保存zui多100組測試結果,隨時查看并打印

★標準量塊標定,方便用戶快速標定設備

★專業(yè)電腦測試軟件,直觀表示測試差異

測試原理

機械接觸式測試原理,截取一定尺寸試樣,測量頭自動降落于試樣之上,在一定壓力和一定接觸面積下測試出試樣的厚度值。

技術參數

測量范圍:0-2mm(其他量程可定制)

分辨率:0.1um

測量速度:10次/min(可調)

測量壓力:17.5±1kPa(薄膜);50±1kPa(紙張)

接觸面積:50mm²(薄膜),200mm²(紙張) 注:薄膜、紙張任選一種

機器尺寸:450mm×340mm×390mm (長寬高)

重量:23Kg

環(huán)境要求

環(huán)境溫度:15-50℃(無震動,無電磁干擾)

相對濕度:zui高80%,無凝露

工作電源:220V      50Hz

    準

GB/T6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTMD1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JISZ1702、BS 3983、BS 4817

配    置

標準配置:主機、標準量塊、微型打印機

選用配置:測試軟件、通信電纜、測量頭、配重砝碼、自動進樣器

 


更多詳情,請咨詢濟南三泉中石實驗儀器有限公司業(yè)務部,
:,, :(王海燕)

 

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