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電腦及周邊設(shè)備的試驗(yàn)方法

閱讀:592        發(fā)布時(shí)間:2011-4-7

 電腦及周邊設(shè)備的試驗(yàn)方法
1、 適用范圍:本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定個(gè)人電腦及周邊設(shè)備產(chǎn)品(不包括攜帶型)之可靠性檢驗(yàn)法。
2、 試驗(yàn)條件:試驗(yàn)時(shí)的溫度、濕度條件在各試驗(yàn)項(xiàng)目中分別之,過試驗(yàn)發(fā)生疑義時(shí)以溫度許可差±2度~80%R.H.時(shí),濕度許可差±5%以內(nèi)為準(zhǔn)。
3、 保證動(dòng)作溫、濕度:個(gè)人電腦及周邊設(shè)備試樣的保證操作環(huán)境溫度范圍在5~50茺,相對(duì)濕度范圍在~80%R.H.時(shí),試樣必需保證操作正常,其功能不得有任何異狀產(chǎn)生。
備注:試樣附裝有硬式磁碟機(jī)進(jìn),保證操作環(huán)境溫度,視度樣規(guī)格而定。
4、試驗(yàn)項(xiàng)目:

4.1 電源變動(dòng)試驗(yàn)
4.2 瞬間斷電試驗(yàn)
4.3 雷擊突波試驗(yàn):依CNS 之規(guī)定。
4.4 電性快速脈波試驗(yàn):依CNS 之規(guī)定。
4.5 靜電放電試驗(yàn):依CNS 之規(guī)定。
4.6 溫度循環(huán)試驗(yàn):
4.7 耐溫濕試驗(yàn)
4.8 落下試驗(yàn)
4.9 振動(dòng)試驗(yàn)
4.10 高溫保存試驗(yàn)
4.11 低溫保存試驗(yàn):
4.12 壽命試驗(yàn)
展臺(tái):www.tkybc.cn

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