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TT230 數(shù)字式涂層測(cè)厚儀使用說明書

最近更新時(shí)間:2013-6-8

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詳細(xì)介紹:

TT230 數(shù)字式涂層測(cè)厚儀使用說明書

TT230涂層測(cè)厚儀適用范圍
TT230涂層測(cè)厚儀是一種超小型測(cè)量?jī)x,TT230涂層測(cè)厚儀它能快速、無(wú)損傷、精密地進(jìn)行非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆層厚度的測(cè)量。TT230涂層測(cè)厚儀可廣泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)
領(lǐng)域。由于該儀器體積小、測(cè)頭與儀器一體化,特別適用于工程現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量。
TT230涂層測(cè)厚儀基本原理
TT230涂層測(cè)厚儀采用了渦流測(cè)厚法,可無(wú)損傷地測(cè)量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度(如銅、鋁、鋅、錫等基底上的琺瑯、橡膠、油漆鍍層)。TT230涂層測(cè)厚儀基本工作原理是:利用高頻交變電流在線圈中產(chǎn)生一個(gè)電磁場(chǎng),當(dāng)測(cè)頭與覆蓋層接觸時(shí),金屬基體上產(chǎn)生電渦流,并對(duì)頭中的線圈產(chǎn)生反饋?zhàn)饔茫ㄟ^測(cè)量電渦流的大小可導(dǎo)出覆蓋層的厚度。
TT230涂層測(cè)厚儀基本配置及儀器結(jié)構(gòu)
TT230涂層測(cè)厚儀基本配置

TT230 主機(jī) 1 臺(tái)
標(biāo)準(zhǔn)樣片 1 盒
標(biāo)準(zhǔn)基體 1 塊
充電器 1 個(gè)
TT230涂層測(cè)厚儀選購(gòu)件
TA210 打印機(jī) 1 臺(tái)
TT230涂層測(cè)厚儀主要功能
● 可進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)及二點(diǎn)校準(zhǔn),并可用基本校準(zhǔn)法對(duì)測(cè)頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正;
● 具有兩種測(cè)量方式:連續(xù)測(cè)量方式(CONTINUE)和單次測(cè)量方式(SINGLE);
● 具有兩種工作方式:直接方式和成組方式;
● 具有刪除功能:對(duì)測(cè)量中出現(xiàn)的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除,也可刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù),以便進(jìn)行新的測(cè)量;
● 設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量:平均值(MEAN)、zui大值(MAX)、zui小值(MIN)、測(cè)試次數(shù)(NO.)、標(biāo)準(zhǔn)偏差(S.DEV);
● 具有米、英制轉(zhuǎn)換功能;
● 具有打印功能,可打印測(cè)量值、統(tǒng)計(jì)值;
● 具有欠壓指示功能;
● 操作過程有蜂鳴聲提示;
● 具有錯(cuò)誤提示功能;
● 具有自動(dòng)關(guān)機(jī)功能。
TT230涂層測(cè)厚儀使用方法
TT230涂層測(cè)厚儀基本測(cè)量步驟

1、準(zhǔn)備好待測(cè)試件(參見第五章)。
2、將測(cè)頭置于開放空間,按一下“ON/C”鍵,開機(jī)。
3、檢查電源
●無(wú)“╪”顯示,表示電池電壓正常;
●“╪”出現(xiàn),表示電池電壓已低落,應(yīng)充電;
●開機(jī)后,出現(xiàn)“╪”并自動(dòng)關(guān)機(jī),表示電池電壓已低限,應(yīng)立即充電。
TT230涂層測(cè)厚儀正常情況下,開機(jī)后顯示上次關(guān)機(jī)前的測(cè)量值。
TT230涂層測(cè)厚儀是否需要校準(zhǔn)儀器,如果需要,選擇適當(dāng)?shù)男?zhǔn)方法進(jìn)行(參見第四章)。
TT230涂層測(cè)厚儀測(cè)量
迅速將測(cè)頭與測(cè)試面垂直地接觸并輕輕壓住,隨著一聲鳴響,屏幕顯示測(cè)量值,
提起測(cè)頭可進(jìn)行下次測(cè)量;
如果在測(cè)量中測(cè)頭放置不穩(wěn),顯示一個(gè)明顯的可疑值,可在“DEL ONE?”狀態(tài)刪除該值;重復(fù)測(cè)量三次以上,在“DIS STATS?” 狀態(tài),可依次顯示五個(gè)統(tǒng)計(jì)值,即:平均值(MEAN)、zui大測(cè)量值(MAX)、zui小測(cè)量值(MIN)、測(cè)量次數(shù)(NO.)、標(biāo)準(zhǔn)偏差(S.DEV)。
TT230涂層測(cè)厚儀關(guān)機(jī)
在無(wú)任何操作的情況下,大約2~3min 后儀器自動(dòng)關(guān)機(jī)。
TT230涂層測(cè)厚儀各項(xiàng)功能及操作方法
TT230涂層測(cè)厚儀測(cè)量方式(單次測(cè)量⇔連續(xù)測(cè)量)

●單次測(cè)量方式──測(cè)頭每接觸被測(cè)件1 次,隨著一聲鳴響,顯示測(cè)量結(jié)果。如若再測(cè)量,須提起測(cè)頭離開被測(cè)件,然后再壓下測(cè)頭。
●連續(xù)測(cè)量方式──不提起測(cè)頭測(cè)量,測(cè)量過程中不伴鳴響,顯示屏連續(xù)顯示測(cè)量結(jié)果。
●兩種方式的轉(zhuǎn)換方法是:在關(guān)機(jī)狀態(tài)下,按住“MODE”鍵后,再按“ON/C”鍵,隨著一聲鳴響,轉(zhuǎn)換完成。單次測(cè)量方式,屏幕顯示如下:連續(xù)測(cè)量方式,屏幕顯示如下:
TT230涂層測(cè)厚儀工作方式(直接方式⇔成組方式)
●直接(DIRECT)方式──此方式用于隨意性測(cè)量,測(cè)量值暫存在內(nèi)存單元(共有15 個(gè)存貯單元)。當(dāng)存滿15 個(gè)存貯單元,新的測(cè)量值將替掉舊測(cè)量值,并且參與統(tǒng)計(jì)計(jì)算的 數(shù)值,總是的15 個(gè)數(shù)據(jù);
●成組方式(BATCH)──此方式便于用戶分批記錄所測(cè)試的數(shù)據(jù),一組zui多15個(gè)數(shù)值,每當(dāng)存滿一組(15 個(gè))數(shù)據(jù),屏幕將顯示此時(shí)可用“PRINT ALL?”打印出該組數(shù)值及其統(tǒng)計(jì)計(jì)算值。用“DELALL?”刪除該組數(shù)據(jù),否則不能進(jìn)行新的測(cè)量。成組方式避免了直接方式下新值替舊值的隨意性。
●兩種方式的轉(zhuǎn)換方法是:
a. 按“MODE”鍵直至屏幕顯示按“ON/C”鍵確認(rèn)后,屏幕顯示進(jìn)入直接方式。
b.按“MODE”鍵直至屏幕顯示按“ON/C”鍵確認(rèn)后,屏幕顯示進(jìn)入成組方式。
TT230涂層測(cè)厚儀刪除
●刪除當(dāng)前值:當(dāng)前測(cè)量結(jié)果如果出現(xiàn)較大誤差,且不希望此結(jié)果進(jìn)入統(tǒng)計(jì)計(jì)算,可按“MODE” 鍵,直至屏幕提示
此時(shí),按“ON/C”鍵即可將此數(shù)據(jù)刪除(如果不想刪除,在“DEL ONE?”狀態(tài)下,按▲或▼鍵即可)。
●刪除全部數(shù)據(jù):如果要?jiǎng)h除內(nèi)存中的全部數(shù)據(jù)以便進(jìn)行新一輪測(cè)量,可按“MODE”鍵,直至屏幕提示此時(shí),按“ON/C”鍵即可將內(nèi)存全部數(shù)據(jù)刪除(如果不想刪除,在“DEL ALL?”狀態(tài)下,按▲或▼鍵即可)。
TT230涂層測(cè)厚儀統(tǒng)計(jì)計(jì)算
只要有3 個(gè)測(cè)量值,即可進(jìn)行統(tǒng)計(jì)計(jì)算。操作方法是:重復(fù)測(cè)量3 次以上,按“MODE”鍵直至屏幕顯示按▲或▼鍵,平均值(MEAN)、zui大測(cè)量值(MAX)、zui小測(cè)量值(MIN)、測(cè)量次數(shù)(NO.)、標(biāo)準(zhǔn)偏差(S.DEV)可依次顯示。若要回到測(cè)量狀態(tài),按“MODE”鍵或“ON/C”鍵即可。
TT230涂層測(cè)厚儀米、英制轉(zhuǎn)換
按“MODE”鍵直至屏幕顯示
按▲鍵顯示英制單位“mil”,例如:在“UNIT?”狀態(tài)下,按▼鍵顯示米制單位“μm”或“mm”。例如:只有測(cè)量值和統(tǒng)計(jì)值參與米、英制轉(zhuǎn)換。
TT230涂層測(cè)厚儀打印功能
●單次打印──與單次測(cè)量方式相對(duì)應(yīng),每測(cè)量一次,打印一個(gè)測(cè)量值。操作方式是:在單次測(cè)量方式下,按“MODE”鍵直至屏幕顯示
按“ON/C”鍵確認(rèn)后,屏幕顯示此后,每次測(cè)量都將打印。若要放棄打印,在“PRT ONE?”狀態(tài)下,按▲或▼鍵即可。
●連續(xù)打印──連續(xù)打印既適用于單次測(cè)量方式也適用于連續(xù)測(cè)量方式,內(nèi)存中的全部測(cè)量值及統(tǒng)計(jì)值一并打印輸出。操作方法是:
按“MODE”鍵直至屏幕顯示按“ON/C”鍵確認(rèn)后,屏幕顯示同時(shí)打印輸出內(nèi)存中的所有測(cè)量值及統(tǒng)計(jì)值。若要放棄打印,在 “PRT ALL?”狀
態(tài)下,按▲或▼鍵即可。
●打印機(jī)與本儀器的連接
只有本公司開發(fā)設(shè)計(jì)的打印機(jī)可與本儀器連接,進(jìn)行打印工作。將打印連線一頭接打印機(jī),另一頭接本儀器,打開打印機(jī)電源,按上述方法操作即可。
TT230涂層測(cè)厚儀關(guān)于“MODE”鍵
按住“MODE”鍵不松開,各狀態(tài)提示將依次出現(xiàn)。
TT230涂層測(cè)厚儀的校準(zhǔn)
為使測(cè)量準(zhǔn)確,應(yīng)在測(cè)量場(chǎng)所對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。
TT230涂層測(cè)厚儀校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片(包括箔和基體)
已知厚度的箔或已知覆蓋層厚度的試樣均可作為校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片。簡(jiǎn)稱標(biāo)準(zhǔn)片。
TT230涂層測(cè)厚儀校準(zhǔn)箔
對(duì)本儀器,“箔”是塑料箔。“箔”有利于曲面上的校準(zhǔn)。
TT230涂層測(cè)厚儀有覆蓋層的標(biāo)準(zhǔn)片
采用已知厚度的、均勻的、并與基體牢固結(jié)合的覆蓋層作為標(biāo)準(zhǔn)片。對(duì)于本儀器,覆蓋層應(yīng)是非導(dǎo)電的。
TT230涂層測(cè)厚儀基體
1、 對(duì)于本儀器標(biāo)準(zhǔn)基體金屬的電性質(zhì),應(yīng)當(dāng)與待
測(cè)試件基體金屬的電性質(zhì)相似。為了證實(shí)標(biāo)準(zhǔn)片的適用性,可用標(biāo)準(zhǔn)片的基體與待測(cè)試件基體上所測(cè)得的讀數(shù)進(jìn)行比較。
2、如果待測(cè)試件的基體金屬厚度沒有超過參數(shù)表中所規(guī)定的臨界厚度,可采用下面兩種方法進(jìn)行校準(zhǔn):
(1)在與待測(cè)試件的基體金屬厚度相同的金屬標(biāo)準(zhǔn)片上校準(zhǔn);
(2)用一足夠厚度的,電學(xué)或磁學(xué)性質(zhì)相似的金屬襯墊標(biāo)準(zhǔn)片或試件,但必須使基體金屬與襯墊金屬之間無(wú)間隙。對(duì)兩面有覆蓋層的試件,不能采用襯墊法。
(3)如果待測(cè)覆蓋層的曲率已達(dá)到不能在平面上校準(zhǔn),則有覆蓋層的標(biāo)準(zhǔn)片的曲率或置于校準(zhǔn)箔下的基體金屬的曲率,應(yīng)與試樣的曲率相同。
TT230涂層測(cè)厚儀校準(zhǔn)方法
本儀器有兩種測(cè)量中使用的校準(zhǔn)方法,零點(diǎn)校準(zhǔn);二點(diǎn)校準(zhǔn);還有一種針對(duì)測(cè)頭的基本校準(zhǔn)。
1、零點(diǎn)校準(zhǔn)
a.在基體上進(jìn)行一次測(cè)量,儀器顯示<×.×μm>。
b.按一下“ON/C”鍵,屏顯<0.00μm>即完成零點(diǎn)校準(zhǔn)。
c.要準(zhǔn)確地校準(zhǔn)零點(diǎn),須重復(fù)上述a、b 以獲得基體測(cè)量值小于1μm,這樣有利于提高測(cè)量精度。零點(diǎn)校準(zhǔn)完成后就可進(jìn)行測(cè)量了。
TT230涂層測(cè)厚儀二點(diǎn)校準(zhǔn)
a.先校零點(diǎn)(見上)。
在厚度大致等于預(yù)計(jì)的待測(cè)覆蓋層厚度的標(biāo)準(zhǔn)片上進(jìn)行一次測(cè)量,屏幕顯示<×××μm>。
b.用▲或▼鍵修正讀數(shù),使其達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)片上的標(biāo)稱值。校準(zhǔn)已完成,可以開始測(cè)量了。
注意:即使顯示結(jié)果與標(biāo)準(zhǔn)片值符合,按▲、▼鍵也是*的,例如按一次▲鍵一次▼鍵。如欲較準(zhǔn)確地進(jìn)行二點(diǎn)校準(zhǔn),可重復(fù)b、c 過程,以提高校準(zhǔn)的精度,減少偶然誤差。
TT230涂層測(cè)厚儀在噴沙表面上校準(zhǔn)
噴沙表面的特性導(dǎo)致了測(cè)量值大大偏離真值,其覆蓋層厚度大致可用下面的方法確定
a.儀器要用三、⒈或三、⒉的方法在曲率半徑和基材相同的平滑表面校準(zhǔn)好。
b.在未涂覆的經(jīng)過同樣噴沙處理的表面測(cè)量10 次左右,得到平均值Mo。
c.然后,在已涂覆的表面上測(cè)量10 次得到平均值Mm。
d.(Mm—Mo)±S 即是覆蓋層厚度。其中S(標(biāo)準(zhǔn)偏差)是SMm 和SMo 中較大的一個(gè)。
TT230涂層測(cè)厚儀儀器的基本校準(zhǔn)
在下述情況下,改變基本校準(zhǔn)是有必要的:
── 測(cè)頭頂端被磨損
── 測(cè)頭修理后
── 特殊的用途
在測(cè)量中,如果誤差明顯地超出給定范圍,則應(yīng)對(duì)測(cè)頭的特性重新進(jìn)行校準(zhǔn),稱為基本校準(zhǔn)。通過輸入6 個(gè)校準(zhǔn)值(一個(gè)零值和5 個(gè)厚度值)可重新校準(zhǔn)測(cè)頭?;拘?zhǔn)操作方法如下:
a.在儀器關(guān)閉狀態(tài)下按住▼鍵再按ON/C 鍵開機(jī),隨著一聲鳴響即進(jìn)入基本校準(zhǔn)方式。屏幕顯示如下:
b.先校零值(見零點(diǎn)校準(zhǔn))??蛇B續(xù)重復(fù)多次,以獲得一個(gè)多次校準(zhǔn)的平均值,這樣可提高校準(zhǔn)的準(zhǔn)確性。
c.使用標(biāo)準(zhǔn)片,按厚度增加的順序做五個(gè)厚度的校準(zhǔn)(見二點(diǎn)校準(zhǔn)中的b、c)。每個(gè)厚度應(yīng)至少是上一個(gè)厚度的1.6 倍以上,理想的情況是2 倍。例如:50、100、200、400、800μm。zui大值應(yīng)接近、但低于測(cè)頭的zui大測(cè)量范圍。
d.在輸入6 個(gè)校準(zhǔn)值后,測(cè)量一下零點(diǎn),儀器自動(dòng)關(guān)閉,新的校準(zhǔn)值已存入儀器。當(dāng)再次開機(jī)時(shí),儀器將按新的校準(zhǔn)值工作。
TT230涂層測(cè)厚儀與儀器使用有關(guān)的注意事項(xiàng)
對(duì)本儀器影響測(cè)量精度的因素主要有:基體導(dǎo)電性、基體厚度、邊緣效應(yīng)、曲率、表面粗糙度、附著物質(zhì)、測(cè)頭壓力、測(cè)頭位置、試樣的變形等。
TT230涂層測(cè)厚儀影響測(cè)量精度的因素及有關(guān)說明
TT230涂層測(cè)厚儀基體金屬電性質(zhì)

基體金屬電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響,而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成份、熱處理成分及熱處理方法有關(guān)。應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。
TT230涂層測(cè)厚儀基體金屬厚度
每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度,測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。本儀器的臨界厚度值見第二章《技術(shù)參數(shù)》。
TT230涂層測(cè)厚儀邊緣效應(yīng)
TT230涂層測(cè)厚儀對(duì)試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的。
TT230涂層測(cè)厚儀曲率
試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。
TT230涂層測(cè)厚儀表面粗糙度
基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對(duì)測(cè)量有影響。粗糙程度增大,影響增大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差,每次測(cè)量時(shí),在不同位置上應(yīng)增加測(cè)量的次數(shù),以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙,還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn);或用對(duì)基體金屬?zèng)]有腐蝕的溶劑溶解除去覆蓋層后,再校對(duì)儀器的零點(diǎn)。
TT230涂層測(cè)厚儀附著物質(zhì)
本儀器對(duì)那些妨礙測(cè)頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感,因此,必須清除附著物質(zhì),以保證儀器測(cè)頭和被測(cè)試件表面直接接觸。
TT230涂層測(cè)厚儀測(cè)頭壓力
測(cè)頭置于試件上所施加的壓力大小會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù),因此本儀器測(cè)頭用彈簧保持一個(gè)基本恒定的壓力。
TT230涂層測(cè)厚儀測(cè)頭的放置
測(cè)頭的放置方式對(duì)測(cè)量有影響。在測(cè)量中,應(yīng)當(dāng)使測(cè)頭與試樣表面保持垂直。
TT230涂層測(cè)厚儀試件的變形
測(cè)頭會(huì)使軟覆蓋層試件變形,因此在這些試件上會(huì)測(cè)出不太可靠的數(shù)據(jù)。
TT230涂層測(cè)厚儀使用儀器時(shí)應(yīng)當(dāng)遵守的規(guī)定
1、基體金屬特性
標(biāo)準(zhǔn)片的基體金屬的電性質(zhì),應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的電性質(zhì)相似。
2、基體金屬厚度
檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度。
3、邊緣效應(yīng)
不應(yīng)在緊靠試件的突變處,如邊緣、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進(jìn)行測(cè)量。
4、曲率
不應(yīng)在試件彎曲表面上測(cè)量。
5、讀數(shù)次數(shù)
通常由于儀器的每次讀數(shù)并不*相同,因此必須在每一測(cè)量面積內(nèi)取幾個(gè)讀數(shù)。覆蓋層厚度的局部差異,也要求在的面積內(nèi)進(jìn)行多次測(cè)量,表面粗糙時(shí)更應(yīng)如此。
6、表面清潔度
測(cè)量前,應(yīng)清除表面上的任何附著物質(zhì),如塵土、油脂及腐蝕物質(zhì)等,但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)。
TT230涂層測(cè)厚儀關(guān)于測(cè)量結(jié)果的說明
1、根據(jù)統(tǒng)計(jì)學(xué)的觀點(diǎn),一次讀數(shù)是不可靠的。因此任何由本儀器顯示的測(cè)量值都是
5 次看不見的測(cè)量的平均值。這5 次測(cè)量是在幾分之一秒的時(shí)間內(nèi)由測(cè)頭和儀器完成的。
2、為使測(cè)量更加準(zhǔn)確,可用本儀器在待測(cè)點(diǎn)多次測(cè)量,并用刪除功能對(duì)粗大誤差進(jìn)行刪除,然后用本儀器的統(tǒng)計(jì)功能處理,獲取五個(gè)統(tǒng)計(jì)量:平均值(MEAN)、zui大值(MAX)、zui小值(MIN)、測(cè)試次數(shù)(NO.)、標(biāo)準(zhǔn)偏差(S.DEV)。
3、按照標(biāo)準(zhǔn),zui終的測(cè)量結(jié)果可以表達(dá)為:CH=M±2S其中: CH— 涂層厚度
M— 多次測(cè)量的平均值(MEAN)
S— 標(biāo)準(zhǔn)偏差(S.DEV)
TT230涂層測(cè)厚儀保養(yǎng)與維修
1、嚴(yán)格避免碰撞、重塵、潮濕、強(qiáng)磁場(chǎng)、油污等。
2、定期給主機(jī)充電:一般每工作8~24 小時(shí)充電一次,每次充電12~14 小時(shí)。
3、 如果未顯示錯(cuò)誤代碼而工作不正常,例如:
儀器不能自動(dòng)關(guān)機(jī);
不能測(cè)量;
鍵不工作;
測(cè)量值反復(fù)無(wú)常。
出現(xiàn)這類故障時(shí),使儀器強(qiáng)制復(fù)位。強(qiáng)制復(fù)位的方法是:
a. 時(shí)按▲鍵和MODE 鍵,屏幕依次顯如下:
b.按▲+▼鍵,屏幕顯示
c.按▲鍵,屏幕顯示
d.按▼鍵,屏幕顯示
e.再按▲+▼鍵,屏幕顯示松開按鍵后屏幕顯示

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