11當前位置：> 供求商機> Phenom G2 pure-FEI旗下PhenomWorld臺式掃描電子顯微鏡
飛納臺式掃描電鏡 標準版
—— 智能、高效、經濟
放大倍數：20×-17,000×
分辨率：優(yōu)于30nm
電子槍：1000小時CeB6燈絲
抽真空時間：10秒
樣品導電性要求：無需噴金，直接觀測絕緣體
環(huán)境掃描選件（ESEM）：溫控樣品臺，可直接觀測液體
可升級為Phenom G2 Pro 專業(yè)版
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| 表面細節(jié)豐富的高分辨率照片 | ||
| Phenom（飛納） G2 Pure 為您提供高信噪比、表面細節(jié)豐富的優(yōu)質圖像： | ||
| • 20×-17,000×連續(xù)放大，分辨率優(yōu)于30nm，大景深； | ||
| • 傳統(tǒng)電鏡往往通過提高加速電壓來產生更高的信號，同時由于穿透深度較深，導致表面細節(jié)缺失。低加速電壓 | ||
| 電子穿透深度淺，避免樣品被破壞，展現(xiàn)更多表面細節(jié)； | ||
| • 探測背散射電子，展現(xiàn)清晰形貌結構的同時，提供豐富的成份信息； | ||
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| | CeB6燈絲在樣品表面單位面積內激發(fā)的信號約是鎢燈絲的10倍，適合于低加速電壓觀測 |
| 表面形貌和成分信息同時展現(xiàn) | |
| 背散射電子的產率、出射角度與樣品成份及表面形貌相關。Phenom（飛納）采用4分割半導體背散射電子探測器，為您提供兩種成像模式，模式之間可迅速切換： | |
| • 成份模式：同時給出樣品表面形貌與成份信息，不同元素可由其灰度對比度的不同加以分辨 | |
| • 形貌模式：去除成份信息，樣品表面凹凸起伏等微觀結構更加明晰，適用于表面粗糙度和缺陷分析 | |
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| 成份模式 | 形貌模式 |
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| 成份模式圖像包含樣品成份與形貌信息 | 形貌模式圖像僅突出樣品表面形貌特征 |
| 樣品杯，30秒快速成像 | |
| Phenom（飛納）樣品杯、低真空設計、的真空封鎖技術，裝入樣品后30秒內即可得到高質量圖像，耗時僅為傳統(tǒng)電鏡的1/10左右。 | |
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| 直接觀看絕緣體，無需噴金 |
| Phenom（飛納）采用低真空技術，出射電子與空氣分子碰撞產生正離子，正離子與樣品表面累積的電子中和，有效抑制荷電效應的產生，直接觀測各種不導電樣品（如下圖所示）。 利用降低荷電效應樣品杯，更可將開始荷電的放大倍數提高8倍左右，而且不會影響燈絲壽命，下圖頭發(fā)示例： |
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| 操作簡便，全程導航 | ||
| • 自動/手動聚焦 | Phenom（飛納）操作界面。通過點擊右側圖標可以輕松完成圖像縮放、聚焦、亮度對比度調節(jié)、旋轉等操作。界面右側顯示光學導航和低倍SEM導航窗口，方便用戶在不同樣品、不同區(qū)域間進行切換。 | |
| • 自動/手動亮度 | ||
| • 自動/手動對比度 | ||
| • 自動燈絲居中調節(jié) | ||
| • 自動馬達樣品臺 | ||
| • 光學/電子樣品導航 | ||
 | 光學導航，所有帶觀測樣品盡在視野之中，高倍下準確切換樣品，只需點擊感興趣樣品，即可自動移動到屏幕* | ||
| 低倍SEM照片導航，導航窗口中的彩色矩形框指示了住觀測窗口的觀測區(qū)域，點擊感興趣的區(qū)域，自動移動到樣品*。 | |||
| 環(huán)境適應性高，*防震 |
| Phenom（飛納）可以放置在幾乎所有的室內環(huán)境當中，無需超凈間。采用燈絲、探測器、樣品臺相對一體化的設計，震動不會引起三者間的相對運動，使Phenom成像不受震動影響，可放置在較高樓層。 |
| 互聯(lián)網遠程檢測 |
| Phenom（飛納）擁有遠程檢測功能，通過網絡，專業(yè)工程師可隨時為您遠程檢測系統(tǒng)、答疑解難，為您提供*的保護，讓您的Phenom隨時處于*工作狀態(tài)。 |
| 適用于不同領域的樣品杯選件 |
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