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[供應]UV760CRT-紫外可見分光光度計
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  • UV760CRT-紫外可見分光光度計
貨物所在地:
北京北京市
更新時間:
2020-06-08 21:03:41
有效期:
2020年6月8日 -- 2020年12月8日
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產(chǎn)品簡介

產(chǎn)品描述
主要特點:
● 采用全息閃耀光柵,雙光束C-T式光路結(jié)構,高分辨率,低雜散光,測光精度高,穩(wěn)定性能好。
● 微機控制,自動記錄,打印機可在一張記錄紙上打印出光譜圖、測試數(shù)據(jù)及操作參數(shù)。
● 光源自動轉(zhuǎn)換(可在294nm~364nm間任意設定)
● 功能*的光譜處理能力。
軟件特點:
● 信息存貯容量大,保存方便。
● 軟件提供四個圖譜通道臨時貯存圖譜,可進行覆蓋和重疊方式的透過率、吸光

詳細介紹

紫外可見分光光度計UV760CRT

紫外可見分光光度計UV760CRT產(chǎn)品描述

紫外可見分光光度計UV760CRT主要特點:
● 采用全息閃耀光柵,雙光束C-T式光路結(jié)構,高分辨率,低雜散光,測光精度高,穩(wěn)定性能好。
● 微機控制,自動記錄,打印機可在一張記錄紙上打印出光譜圖、測試數(shù)據(jù)及操作參數(shù)。
● 光源自動轉(zhuǎn)換(可在294nm~364nm間任意設定)
● 功能*的光譜處理能力。

軟件特點:
● 信息存貯容量大,保存方便。
● 軟件提供四個圖譜通道臨時貯存圖譜,可進行覆蓋和重疊方式的透過率、吸光度、吸收度對數(shù)和能量圖譜掃描,透過率和吸光度的圖譜可輕松地相互轉(zhuǎn)換,對圖譜可進行圖譜和圖譜、圖譜和系數(shù)的四則運算、導數(shù)運算。
● 圖譜的峰谷檢測、縮放輕松自如。
● 時間掃描可進行動力學研究。
● 定量分析提供了濃度線性回歸法、方法中提供了待定系數(shù)法和系數(shù)輸入法可進行曲線擬合及異常點剔除、2λ和3λ的測定,3λ提供了自動的波長設定并提供10組波長數(shù)據(jù)供用戶選擇使用。
● 軟件提供了定波長和多波長測試,并可對測試數(shù)據(jù)進行注釋,對同一樣品多用戶的測試提供了方便,多波長測試則可進行多達20個點波長的測試。
● 可輕松地將貯存圖譜的參數(shù)設置為儀器當前測試條件。
● 打印機可進行參數(shù)與圖譜打印、參數(shù)與圖譜及數(shù)據(jù)打印、參數(shù)與數(shù)據(jù)打印和工作曲線的打印。

紫外可見分光光度計UV760CRT技術指標:
● 測光方式:雙光束C-T式光路結(jié)構,全息閃耀光柵分光器,光電倍增管檢測。
● 波長范圍:190nm~900nm
● 分辯率:優(yōu)于0.15nm
● 光譜帶寬:0.08nm~5nm間隔0.01nm連續(xù)可調(diào)
● 波長zui大允許誤差:±0.3nm(內(nèi)裝自動波長校正裝置)
● 波長重復性:0.2nm
● 雜散光:≤0.08%(T)(以NaI溶液在220nm處)
● 透射比zui大允許誤差:±0.3%τ(以NBS930D測定)
● 透射比重復性:0.2%(T)
● 掃描速度:快、中、慢
● 穩(wěn)定性:≤±0.004A/30min
● 噪聲:±0.3%(*處) ±0.1%(0%處) 

紫外可見分光光度計UV760CRT

 

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