布魯克ContourSP三維工業(yè)光學(xué)顯微鏡

大面板計(jì)量系統(tǒng)

HDI-PCB生產(chǎn)的綜合測量

ContourSP大面板計(jì)量系統(tǒng)擁有十多年的包裝計(jì)量專業(yè)知識(shí)，是上一代SP型號(hào)的高密度互連PCB（HDI-PCB）基板的測量吞吐量的兩倍以上。ContourSP專為在制造過程中測量PCB板的每一層而設(shè)計(jì)，并具有許多*功能，可為半導(dǎo)體封裝行業(yè)提供高的生產(chǎn)性能，便利性，可靠性和吞吐量。 

具有量規(guī)的ContourSP利用直觀的生產(chǎn)界面，通過可配置的用戶輸入提供快速簡便的基準(zhǔn)對(duì)準(zhǔn)。只有ContourSP才能確保少的配方開發(fā)時(shí)間，高的產(chǎn)量，長的正常運(yùn)行時(shí)間以及生產(chǎn)中每個(gè)被測面板的低成本。

測量速度更快，可測量面積更大

ContourSP 3D光學(xué)顯微鏡具有Vision64®操作和分析軟件，以及業(yè)界直觀的模塊化用戶界面，可為廣泛的表面輪廓測量應(yīng)用提供用戶級(jí)定制功能。該系統(tǒng)還利用了布魯克公司基于龍門架的革命性設(shè)計(jì)和集成工作站，可在高度緊湊的占地面積內(nèi)支持多達(dá)600x600毫米的樣品。

布魯克ContourSP三維工業(yè)光學(xué)顯微鏡

*的功能可實(shí)現(xiàn)高生產(chǎn)力

• 動(dòng)態(tài)信號(hào)分割
• 重新測量功能
• 形貌掃描以補(bǔ)償晶圓彎曲
• 坐標(biāo)文件導(dǎo)入，ESD，Panel ID讀取器
• 模式識(shí)別
• 基于Vision64的操作員訪問控制