博達微9812DX噪聲測試系統(tǒng)

概倫電子噪聲測試系統(tǒng) 9812 系列是全球半導(dǎo)體行業(yè)業(yè)內(nèi)低頻噪聲測試 的“ 黃金標準"。 最新型號 9812DX 作為 9812B 和 9812D 的增強版，為半導(dǎo)體行業(yè)*工藝研發(fā)、器件建模和電路設(shè)計提供了更加完整而又高效的低頻噪聲測試及分析解決方案，可以滿足各種不同工藝平臺下半導(dǎo)體器件和集成電路低頻噪聲測試的需求。

9812DX 作為單一完整的低頻噪聲測試系統(tǒng)，支持全面的半導(dǎo) 體器件種類在多種測試條件下的高精度噪聲測試，提供了很高的晶圓級噪聲測試精度和測試帶寬，該型號的測試精度較之前的 9812D 提高了一個數(shù)量級，測試噪聲電流精度低至 10-27A2 /Hz，其測試能力覆蓋非常廣泛，是市面少有的從 10Ω 到 10MΩ 可同時覆蓋高阻抗器件和低阻抗器件測試能力的設(shè)備。

針對半導(dǎo)體*工藝制程節(jié)點特別是 FinFET 工藝下對低頻噪聲測試需求“爆炸式"增長的挑戰(zhàn)，通過軟硬件創(chuàng)新設(shè)計， 9812DX 不但使典型噪聲測試速度提高至一個偏置條件僅需 10s，還將最高測試電壓提高到 200V 從而使得適用應(yīng)用場景更 加廣泛。該系統(tǒng)可在短時間內(nèi)獲得更加精確可信的測試數(shù)據(jù)， 另外還可以通過并行測試架構(gòu)解決方案以及協(xié)同 FS-Pro 半導(dǎo)體參數(shù)測試系統(tǒng)等方式大幅度的提高了測試效率和吞吐量。

目前，9812DX 已被眾多半導(dǎo)體代工廠所采用，繼 9812B/D后成為低頻噪聲測試領(lǐng)域新一代的“黃金標準"，被用于 28nm, 14nm, 10nm, 7nm 和 5nm 等各工藝節(jié)點的*工藝研發(fā)和集成電路設(shè)計。

產(chǎn)品優(yōu)勢

應(yīng)用范圍：

已被眾多半導(dǎo)體公司所采用的標準測試系統(tǒng)

產(chǎn)品歷史超過十年

功能：

1/f噪聲(閃爍噪聲)測試與特性分析、RTN(隨機電報噪聲)測試與特性分析

任意待測類型，晶圓級高精度和測試帶寬

寬電壓、寬電流、寬阻抗測量范圍

系統(tǒng)架構(gòu):

系統(tǒng)體系架構(gòu)經(jīng)過行業(yè)認可并不斷完善，可靠性好和精度高

支持并行測試：

經(jīng)過業(yè)界客戶嚴苛驗證并認可的在高精度下高測試吞吐率和并行測試能力

 硬件規(guī)格

寬量程： 最大器件端電壓和電流 : 200V, 200mA

高精度： 最高 DC 電流精度 : 10pA、 系統(tǒng)噪聲電流精度 :<10-27A2 /Hz

測試速度：典型 1/f 噪聲測試速度可達 10 秒 /bias

抗阻范圍：阻抗匹配范圍 : 10?-10 M? Gate/Base

電阻多達 16 個選擇

Drain/Collector 電阻多達 15 個選擇

系統(tǒng)參數(shù)： 電壓放大器：0.03-10MHz, 0.65nV/Hz(@5kHz)

電流放大器：0.03-1MHz, 0.7pA/ Hz(@5kHz)

寬帶電流放大器：0.03-10MHz, 5pA/ √Hz (@5KHz)

高精度電流放大器：0.03-20KHz, 60fA/ √Hz (@5KHz)

可編程偏置濾波器 、ESD 保護

內(nèi)置 16 位 DSA

支持多臺并行測試

 軟件規(guī)格

9812DX 系列內(nèi)置 NoiseProPlus 測量軟件具有強大的低頻噪聲測試和分析功能，該軟件具有下列主要功能 :

• 軟件界面友好易操作，同時滿足測試控制、圖形顯示和數(shù)據(jù)分析需求

• 支持 1/f 噪聲和 RTN 噪聲測試 ，具有專業(yè)的數(shù)據(jù)分析功能

• 測試結(jié)果可導(dǎo)出供用戶后續(xù)分析研究，測試數(shù)據(jù)可直接導(dǎo)入

• 建模軟件 BSIMProPlus 和 MeQLab 進行噪聲模型提取和特性分析

• 支持多種模式、多種器件在不同偏置下的手動/自動測試

• 支持驅(qū)動 Keysight/Keithley 等各型號主流測試儀

• 支持驅(qū)動 Cascade/SUSS/MPI 等各型號 Prober 實現(xiàn)手動及全自動測試

博達微9812DX噪聲測試系統(tǒng)產(chǎn)品應(yīng)用

*半導(dǎo)體制造工藝如 FinFET/FD-SOI/GaN 等研發(fā)過程中的質(zhì)量和工藝評估

芯片制造過程中的特定工藝品質(zhì)監(jiān)控

半導(dǎo)體器件和電路的低頻噪聲特性測試、噪聲數(shù)據(jù)分析

半導(dǎo)體器件 SPICE 模型庫開發(fā)

集成電路設(shè)計和驗證

應(yīng)用實例