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貨物所在地：廣東深圳市
所在地： 中國(guó)
更新時(shí)間：2024-07-15 16:30:39
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QT-8100HP模擬IC測(cè)試系統(tǒng)
常規(guī) DC、AC 參數(shù)測(cè)試、分立器件 Wafer 多 site 和 IC 功能性測(cè)試 主要測(cè)試：電源管理類，馬達(dá)驅(qū)動(dòng)類，音頻放大器、高速光耦、運(yùn)放、小功率分立器件等
QT-8100HP模擬IC測(cè)試系統(tǒng)
| 型號(hào) | QT-8100 |
| 產(chǎn)品優(yōu)勢(shì) | 數(shù)?；旌螴C測(cè)試系統(tǒng)適用于常規(guī)DC、AC參數(shù)測(cè)試和混合類及模擬類IC器件功能性測(cè)試。主要測(cè)試：電源管理類，數(shù)碼消費(fèi)類，馬達(dá)驅(qū)動(dòng)類，音頻放大器、運(yùn)放等 |
| 主要特點(diǎn) | • 懸浮V/I源，四象限 • 由測(cè)試盒引出全資源，8site并測(cè) • 數(shù)字速率100Mhz，向量深度8M • 真并測(cè)，多路1000V/20A高壓大電流 • 18 bit 高精密采樣 • 20 個(gè)模擬槽位（Max 216通道）/ 8 個(gè)數(shù)字槽位（ Max 128通道） • 多通道高精度時(shí)間測(cè)量單元，支持ns級(jí)別時(shí)間測(cè)量 • 支持RF模組擴(kuò)展 • PCIE 卡，測(cè)試效率更高 |
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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