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阿貝比較儀是基于阿貝原理而設(shè)計的高精度長度計量儀器。該儀器主要用于測量二線之間的距離及平面上兩點之間的距離：如對200mm以下短標(biāo)尺的檢定；對光譜圖形及光學(xué)儀器中的分劃板的精密測量等等。并可作為攝譜儀的成套附件。

品牌：上海光學(xué)

名稱：阿貝比長儀

型號：6W

產(chǎn)品詳細(xì)介紹：

一、儀器用途

阿貝比較儀是基于阿貝原理而設(shè)計的高精度長度計量儀器。該儀器主要用于測量二線之間的距離及平面上兩點之間的距離：如對200mm以下短標(biāo)尺的檢定；對光譜圖形及光學(xué)儀器中的分劃板的精密測量等等。并可作為攝譜儀的成套附件。

二、技術(shù)規(guī)格

測量范圍： 200mm

標(biāo)尺分度： 1mm

讀數(shù)顯微鏡分度值： 0.001mm

讀數(shù)顯微鏡放大倍數(shù)： 50X

對線顯微鏡放大倍數(shù)： 30X

對線工作距離： 50mm

儀器測量誤差：

公式中：L—被測件測量長度，單位：mm

儀器體積： 620X300X400mm

儀器重量： 40kg

產(chǎn)品相關(guān)關(guān)鍵字：折射儀上海光學(xué) 光學(xué)阿貝折射儀 6W 比長儀

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