高精度薄膜測厚儀

型號：DRK-204C

薄膜檢測儀對薄膜，測量厚度、均勻性、薄膜彈性模量等，并且可以與計(jì)算機(jī)連接通訊，實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)自動(dòng)處理，從而提高了檢驗(yàn)速度，了檢測人員的勞動(dòng)強(qiáng)度。該儀器對環(huán)境溫度波動(dòng)不敏感，經(jīng)濟(jì)實(shí)用，適合于薄膜企業(yè)控制和計(jì)量檢測單位或的檢測使用。
構(gòu)成： 由光電傳感器、測量座、抬落、數(shù)顯表等部分組成。
特點(diǎn)：檢定快速，準(zhǔn)確。測量值由數(shù)顯表直接顯示，讀數(shù)方便，減少人為讀數(shù)誤差；儀器結(jié)構(gòu)穩(wěn)定性很高，溫度穩(wěn)定性很好；測量重復(fù)性好，漂移量很小?？蓪?shí)現(xiàn)位置清零、
公/英制轉(zhuǎn)換、預(yù)先置數(shù)、自動(dòng)求，值和，值等多種功能；可通過與計(jì)算機(jī)連接通訊實(shí)現(xiàn)測量結(jié)果的自動(dòng)記錄、自動(dòng)處理、打印及統(tǒng)計(jì)分析等；對環(huán)境溫度波動(dòng)相對不敏感，現(xiàn)有基層計(jì)量室不
提高溫控要求即可使用。
主要參數(shù)
數(shù)顯分辨率：0.001μm
示值誤差：±(0.4+0.04L)μm
測量范圍：0-10mm