產(chǎn)品分類(lèi)品牌分類(lèi)
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塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng)- 絕緣電阻劣化(離子遷移)評(píng)估系統(tǒng) 儲(chǔ)能新材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 半導(dǎo)體封裝材料真空探針臺(tái) 空間電荷測(cè)試系統(tǒng) 電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng) 高頻高壓絕緣電阻、介電 多通道極化裝置 鐵電分析儀 高壓功率放大器 高低溫冷熱臺(tái)測(cè)試系統(tǒng) 絕緣電阻率測(cè)試儀 50點(diǎn)耐壓測(cè)試儀 電壓擊穿測(cè)定儀 耐電弧試驗(yàn)儀 探針臺(tái) 漏電起痕試驗(yàn)儀 多通道介電與電阻測(cè)試系統(tǒng)
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激光測(cè)振儀 傳感器多功能綜合測(cè)試系統(tǒng) 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng) 長(zhǎng)期耐腐蝕老化試驗(yàn)平臺(tái)- 高電場(chǎng)介電、損耗、漏電流測(cè)試系統(tǒng) 阻抗分析儀 鐵電綜合材料測(cè)試系統(tǒng) 鐵電分析儀 高壓功率放大器 D33壓電系數(shù)測(cè)試儀 高溫介電溫譜測(cè)試儀 熱釋電測(cè)試儀 TSDC熱刺激電流測(cè)試儀 高壓極化裝置 高低溫冷熱臺(tái) 簡(jiǎn)易探針臺(tái) 高溫四探針測(cè)試儀 多通道電流采集系統(tǒng) 高真空退火爐 電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 高溫管式爐測(cè)試儀 漆包線擊穿耐壓試驗(yàn)儀 電化學(xué)遷移測(cè)試系統(tǒng) 水平垂直燃燒測(cè)定機(jī) 陶瓷材料閃燒試驗(yàn)裝置 導(dǎo)通電評(píng)估系統(tǒng) 差熱分析儀 醫(yī)用接地電阻
差熱分析法的介紹
差熱分析(DTA)是在程序控制溫度下,測(cè)量物質(zhì)和參比物的溫度差和溫度關(guān)系的一種技術(shù)。當(dāng)試樣發(fā)生任何物理或化學(xué)變化時(shí),所釋放或吸收的熱量使試樣溫度高于或低于參比物的溫度,從而相應(yīng)地在差熱曲線上可得到放熱或吸熱峰。差熱曲線(DTA曲線)是由差熱分析得到的記錄曲線。
曲線的縱坐標(biāo)為試樣與參比物的溫度差(△T),向上表示放熱反應(yīng),向下表示吸熱反應(yīng)。差熱分析也可測(cè)定試樣的熱容變化,它在差熱線上反映出基線的偏離。
在熱分析方法中,差熱分析是使用得早、應(yīng)用廣和研究多的一種熱分析技術(shù)。在20世紀(jì)50年代以前,差熱分析儀大多數(shù)是實(shí)驗(yàn)裝置,靈敏度和jing確度都較差。自50年以后,熱分析儀也有較大的進(jìn)展。目前,的差熱分析儀的溫度范圍可從-180℃到2400℃,它是由低溫(-180~500℃)、中溫(室溫~1000℃)和高溫(室溫~1600℃或400~2400℃)DTA所組成。高溫DTA在加熱均勻性和對(duì)稱性方面的要求是很高的。在試樣用量上為毫克水平,充分表明現(xiàn)代差熱分析儀的高靈敏度。另外,還設(shè)計(jì)有定量和高壓的差熱分析儀,它們能分別測(cè)定所研究物質(zhì)的定量和高壓的熱性質(zhì)數(shù)據(jù)。由于差示掃描量熱儀(DSC)的出現(xiàn),差熱分析儀主要應(yīng)用于中、高溫和高壓以及腐蝕性材料的研究,所以它廣泛地應(yīng)用于礦物、陶瓷、水泥、催化、冶金等領(lǐng)域。