產(chǎn)品分類品牌分類
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激光測振儀 傳感器多功能綜合測試系統(tǒng) 先進(jìn)功能材料電測綜合測試系統(tǒng) 長期耐腐蝕老化試驗(yàn)平臺(tái)- 高電場介電、損耗、漏電流測試系統(tǒng) 阻抗分析儀 鐵電綜合材料測試系統(tǒng) 鐵電分析儀 高壓功率放大器 D33壓電系數(shù)測試儀 高溫介電溫譜測試儀 熱釋電測試儀 TSDC熱刺激電流測試儀 高壓極化裝置 高低溫冷熱臺(tái) 簡易探針臺(tái) 高溫四探針測試儀 多通道電流采集系統(tǒng) 高真空退火爐 電學(xué)綜合測試系統(tǒng) 高溫管式爐測試儀 漆包線擊穿耐壓試驗(yàn)儀 電化學(xué)遷移測試系統(tǒng) 水平垂直燃燒測定機(jī) 陶瓷材料閃燒試驗(yàn)裝置 導(dǎo)通電評(píng)估系統(tǒng) 差熱分析儀 醫(yī)用接地電阻
介電常數(shù)溫度系數(shù)和變化率
電容量隨溫度變化而變化,是由于介質(zhì)的介電常數(shù)和幾何尺寸隨溫度而變化。對于裝置瓷和Ⅰ型電容器瓷用電容溫度系數(shù)表示這種變化,對于Ⅱ型和川型電容器瓷則采用電容溫度變化率表示。
溫度t時(shí)的電容溫度系數(shù)αC為:
αC=(1/C)*(dc/dt)
在一定溫度范圍內(nèi),c與t的關(guān)系可視為直線時(shí),則上式寫成:
αC=(1/C1)*(△c/△t)
式中:△c=c2-c1,△t=t2-t1
C2、c1為溫度t2、t1時(shí)的電容量
介電常數(shù)隨溫度的變化用介電常數(shù)的溫度系數(shù)表示。溫度t時(shí)介電常數(shù)的溫度系數(shù)αε。
αε=(1/ε)*(dε/dt)
在一定溫度范圍內(nèi),ε與t的關(guān)系可視為直線時(shí),則上式寫成:
αε=(1/ε1)*(△ε/△t)
式中:△ε=ε2-ε1,△t=t2-t1
ε2、ε1為溫度t2、t1時(shí)的電容量。
介電常數(shù)隨溫度的變化用αε表示,幾何尺寸的變化用膨脹系數(shù)αⅠ,表示,電容溫度系數(shù)αC。應(yīng)是αε和αⅠ,的函數(shù)。即:
α。=αε+αⅠ說明電子陶瓷的電容溫度系數(shù)取決于介電常數(shù)的溫度系數(shù)和線膨脹系數(shù),由于線膨脹系數(shù)較小,一般認(rèn)為αC≌αⅠ。
電容溫度系數(shù)的測量采用電容溫度系數(shù)測試儀。
電容量隨溫度變化而變化,是由于介質(zhì)的介電常數(shù)和幾何尺寸隨溫度而變化。對于裝置瓷和Ⅰ型電容器瓷用電容溫度系數(shù)表示這種變化,對于Ⅱ型和川型電容器瓷則采用電容溫度變化率表示。
溫度t時(shí)的電容溫度系數(shù)αC為:
αC=(1/C)*(dc/dt)
在一定溫度范圍內(nèi),c與t的關(guān)系可視為直線時(shí),則上式寫成:
αC=(1/C1)*(△c/△t)
式中:△c=c2-c1,△t=t2-t1
C2、c1為溫度t2、t1時(shí)的電容量
介電常數(shù)隨溫度的變化用介電常數(shù)的溫度系數(shù)表示。溫度t時(shí)介電常數(shù)的溫度系數(shù)αε。
αε=(1/ε)*(dε/dt)
在一定溫度范圍內(nèi),ε與t的關(guān)系可視為直線時(shí),則上式寫成:
αε=(1/ε1)*(△ε/△t)
式中:△ε=ε2-ε1,△t=t2-t1
ε2、ε1為溫度t2、t1時(shí)的電容量。
介電常數(shù)隨溫度的變化用αε表示,幾何尺寸的變化用膨脹系數(shù)αⅠ,表示,電容溫度系數(shù)αC。應(yīng)是αε和αⅠ,的函數(shù)。即:
α。=αε+αⅠ說明電子陶瓷的電容溫度系數(shù)取決于介電常數(shù)的溫度系數(shù)和線膨脹系數(shù),由于線膨脹系數(shù)較小,一般認(rèn)為αC≌αⅠ。
電容溫度系數(shù)的測量采用電容溫度系數(shù)測試儀。