產(chǎn)品分類(lèi)品牌分類(lèi)
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塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng)- 絕緣電阻劣化(離子遷移)評(píng)估系統(tǒng) 儲(chǔ)能新材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 半導(dǎo)體封裝材料真空探針臺(tái) 空間電荷測(cè)試系統(tǒng) 電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng) 高頻高壓絕緣電阻、介電 多通道極化裝置 鐵電分析儀 高壓功率放大器 高低溫冷熱臺(tái)測(cè)試系統(tǒng) 絕緣電阻率測(cè)試儀 50點(diǎn)耐壓測(cè)試儀 電壓擊穿測(cè)定儀 耐電弧試驗(yàn)儀 探針臺(tái) 漏電起痕試驗(yàn)儀 多通道介電與電阻測(cè)試系統(tǒng)
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激光測(cè)振儀 傳感器多功能綜合測(cè)試系統(tǒng) 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng) 長(zhǎng)期耐腐蝕老化試驗(yàn)平臺(tái)- 高電場(chǎng)介電、損耗、漏電流測(cè)試系統(tǒng) 阻抗分析儀 鐵電綜合材料測(cè)試系統(tǒng) 鐵電分析儀 高壓功率放大器 D33壓電系數(shù)測(cè)試儀 高溫介電溫譜測(cè)試儀 熱釋電測(cè)試儀 TSDC熱刺激電流測(cè)試儀 高壓極化裝置 高低溫冷熱臺(tái) 簡(jiǎn)易探針臺(tái) 高溫四探針測(cè)試儀 多通道電流采集系統(tǒng) 高真空退火爐 電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 高溫管式爐測(cè)試儀 漆包線(xiàn)擊穿耐壓試驗(yàn)儀 電化學(xué)遷移測(cè)試系統(tǒng) 水平垂直燃燒測(cè)定機(jī) 陶瓷材料閃燒試驗(yàn)裝置 導(dǎo)通電評(píng)估系統(tǒng) 差熱分析儀 醫(yī)用接地電阻
關(guān)于阻抗分析儀
阻抗分析儀能在阻抗范圍和寬頻率范圍進(jìn)行精que測(cè)量,它利用物體具有不同的導(dǎo)電作用,在物體表面加一固定的低電平電流時(shí),通過(guò)阻抗計(jì)算出物體的各種器件、設(shè)備參數(shù)和優(yōu)劣。
下面介紹一下設(shè)備的主要組成部分:
無(wú)源元件: 電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組 件和網(wǎng)絡(luò)元件等的阻抗參數(shù)評(píng)估和分析。
半導(dǎo)體元件: LED驅(qū)動(dòng)集成電路寄生參數(shù)測(cè)試分析;變?nèi)荻O管的C-VDC特性;
變?nèi)荻O管的C-VDC特性;
晶體管或集成電路的寄生參數(shù)分析
其它元件: 印制電路板、繼電器、開(kāi)關(guān)、電纜、電池等的阻抗評(píng)估
設(shè)備的主要應(yīng)用范圍:
介質(zhì)材料: 塑料、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)和損耗角評(píng)估
磁性材料: 鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導(dǎo)磁率和損耗角評(píng)估
半導(dǎo)體材料: 半導(dǎo)體材料的介電常數(shù)、導(dǎo)電率和C-V特性
液晶單元: 介電常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V特性
屏幕信息存儲(chǔ)于U盤(pán)
測(cè)試狀態(tài)故障智能檢測(cè)
靈活方便的文件操作系統(tǒng)
Handler接口用于實(shí)現(xiàn)聯(lián)機(jī)操作
RS232、USB HOST 、USB Device、LAN、GPIB(選件), 可方便與PC進(jìn)行數(shù)據(jù)通訊以及對(duì)儀器的遠(yuǎn)程控制