產(chǎn)品分類(lèi)品牌分類(lèi)
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塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng)- 絕緣電阻劣化(離子遷移)評(píng)估系統(tǒng) 儲(chǔ)能新材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 半導(dǎo)體封裝材料真空探針臺(tái) 空間電荷測(cè)試系統(tǒng) 電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng) 高頻高壓絕緣電阻、介電 多通道極化裝置 鐵電分析儀 高壓功率放大器 絕緣電阻率測(cè)試儀 高低溫冷熱臺(tái)測(cè)試系統(tǒng) 50點(diǎn)耐壓測(cè)試儀 電壓擊穿測(cè)定儀 耐電弧試驗(yàn)儀 探針臺(tái) 漏電起痕試驗(yàn)儀 多通道介電與電阻測(cè)試系統(tǒng)
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激光測(cè)振儀 傳感器多功能綜合測(cè)試系統(tǒng) 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng) 長(zhǎng)期耐腐蝕老化試驗(yàn)平臺(tái)- 高電場(chǎng)介電、損耗、漏電流測(cè)試系統(tǒng) 阻抗分析儀 鐵電綜合材料測(cè)試系統(tǒng) 鐵電分析儀 高壓功率放大器 D33壓電系數(shù)測(cè)試儀 高溫介電溫譜測(cè)試儀 熱釋電測(cè)試儀 TSDC熱刺激電流測(cè)試儀 高壓極化裝置 高低溫冷熱臺(tái) 簡(jiǎn)易探針臺(tái) 高溫四探針測(cè)試儀 多通道電流采集系統(tǒng) 高真空退火爐 電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 高溫管式爐測(cè)試儀 漆包線擊穿耐壓試驗(yàn)儀 電化學(xué)遷移測(cè)試系統(tǒng) 水平垂直燃燒測(cè)定機(jī) 陶瓷材料閃燒試驗(yàn)裝置 導(dǎo)通電評(píng)估系統(tǒng) 差熱分析儀 醫(yī)用接地電阻
影響絕緣材料狀態(tài)材料的電氣強(qiáng)度測(cè)試值的因素
電氣擊穿試樣承受電應(yīng)力作用時(shí),其絕緣嚴(yán)重?fù)p失,由此引起的試驗(yàn)田路電流促使相應(yīng)的回路斷路器動(dòng)作。注:擊穿通常是由試中羊和電極周?chē)臍怏w或液體媒質(zhì)中的局部放電引起,并使得較小電極(或等徑兩電極)邊緣的試樣遭到破壞閃絡(luò)試樣和電極周?chē)臍怏w或液體媒質(zhì)承受電應(yīng)力作用時(shí),其絕緣損失,由此引起的試驗(yàn)回路電流促使相應(yīng)的回路斷路器動(dòng)作。注:碳化通道的出現(xiàn)或穿透試樣的擊穿可用于區(qū)分試驗(yàn)是擊穿還是閃絡(luò)。
電壓擊穿試驗(yàn)儀試驗(yàn)的意義按本部分得到的電氣強(qiáng)度試驗(yàn)結(jié)果,能用來(lái)檢測(cè)由于工藝變、老化條件或其他制造或環(huán)境情況而引起的相對(duì)于正常值的變化或偏離,而很少能用于直接確定在實(shí)際應(yīng)用中的絕緣材料的狀態(tài)材料的電氣強(qiáng)度測(cè)試值可受如下多種因素的影響:
試樣的狀態(tài)
a)試樣的厚度和均勻性,是否存在機(jī)械應(yīng)力;
b)試樣預(yù)處理,特別是干燥和浸漬過(guò)程;
c)是否存在孔隙、水分或其他雜質(zhì)。
試驗(yàn)條件
a)施加電壓的頻率、被形和升壓速度或加壓時(shí)間;
b)環(huán)境溫度、氣壓和濕度;
c)電極形狀、電植尺寸及其導(dǎo)熱系數(shù);
d)周?chē)劫|(zhì)的電、熱特性。
華測(cè)其它相關(guān)產(chǎn)品:
可按用戶要求訂制非標(biāo)產(chǎn)品
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