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14產(chǎn)品分類(lèi)品牌分類(lèi)
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塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng)- 絕緣電阻劣化（離子遷移）評(píng)估系統(tǒng) 儲(chǔ)能新材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 半導(dǎo)體封裝材料真空探針臺(tái) 空間電荷測(cè)試系統(tǒng) 電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng) 高頻高壓絕緣電阻、介電 多通道極化裝置 鐵電分析儀 高壓功率放大器 絕緣電阻率測(cè)試儀 高低溫冷熱臺(tái)測(cè)試系統(tǒng) 50點(diǎn)耐壓測(cè)試儀 電壓擊穿測(cè)定儀 耐電弧試驗(yàn)儀 探針臺(tái) 漏電起痕試驗(yàn)儀 多通道介電與電阻測(cè)試系統(tǒng)
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激光測(cè)振儀 傳感器多功能綜合測(cè)試系統(tǒng) 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng) 長(zhǎng)期耐腐蝕老化試驗(yàn)平臺(tái)- 高電場(chǎng)介電、損耗、漏電流測(cè)試系統(tǒng) 阻抗分析儀 鐵電綜合材料測(cè)試系統(tǒng) 鐵電分析儀 高壓功率放大器 D33壓電系數(shù)測(cè)試儀 高溫介電溫譜測(cè)試儀 熱釋電測(cè)試儀 TSDC熱刺激電流測(cè)試儀 高壓極化裝置 高低溫冷熱臺(tái) 簡(jiǎn)易探針臺(tái) 高溫四探針測(cè)試儀 多通道電流采集系統(tǒng) 高真空退火爐 電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 高溫管式爐測(cè)試儀 漆包線擊穿耐壓試驗(yàn)儀 電化學(xué)遷移測(cè)試系統(tǒng) 水平垂直燃燒測(cè)定機(jī) 陶瓷材料閃燒試驗(yàn)裝置 導(dǎo)通電評(píng)估系統(tǒng) 差熱分析儀 醫(yī)用接地電阻
薄膜電弱點(diǎn)的工作原理
產(chǎn)品用途
據(jù)標(biāo)準(zhǔn)《GB/T 13541-92電氣用塑料薄膜試驗(yàn)方法》，電氣用塑料薄膜要求進(jìn)行電弱點(diǎn)測(cè)試，在給定直流電壓下每平方米的擊穿點(diǎn)（電弱點(diǎn)）數(shù)成為衡量薄膜成量的重要指標(biāo)。電氣用塑料薄膜電弱點(diǎn)測(cè)試儀，無(wú)須將膜卷分切成小卷，根據(jù)薄膜的使用寬度直接進(jìn)行電弱點(diǎn)測(cè)試。由于薄膜在生過(guò)程中極易引起縱向劃傷，該儀器引用“電 弱線"概念，即在規(guī)定的時(shí)間內(nèi)檢測(cè)到的試樣漏電 流均超過(guò)1mA時(shí)，認(rèn)定為該薄膜試樣在生產(chǎn)過(guò) 程中存在縱向劃痕，從而產(chǎn)生“電弱線"，測(cè)試儀統(tǒng)計(jì)的電弱點(diǎn)總數(shù)為電弱點(diǎn)數(shù)與電弱線數(shù)之和，這 樣的測(cè)試數(shù)據(jù)史能真實(shí)地反映薄膜的質(zhì)顯水平， 且有助于分析生產(chǎn)過(guò)程中存在的問(wèn)題，從而有針對(duì)地提出解決問(wèn)題的方案。
特點(diǎn)
該系列產(chǎn)品的主要特點(diǎn)是能根據(jù)薄膜的使用寬度進(jìn)行電弱點(diǎn)的測(cè)試，測(cè)試寬度可根據(jù)用戶(hù)的要求而設(shè)定，無(wú)須將膜分切成小卷，免除了許多外來(lái)因素對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響。測(cè)試數(shù)據(jù)能真實(shí)地反映薄膜的質(zhì)量水平。該系列產(chǎn)品的主要元器件均選用品牌（如歐姆龍，美信，ABB等），有效地保證了設(shè)備的可靠性、耐用性和穩(wěn)定性。測(cè)量準(zhǔn)確，復(fù)現(xiàn)性好。測(cè)試過(guò)程采用電子技術(shù)全自動(dòng)控制，遇到電弱點(diǎn)時(shí)電壓切斷動(dòng)作迅速。擊穿電流在0～40mA連續(xù)可調(diào)，復(fù)現(xiàn)性好。本機(jī)具備多重保護(hù)功能，充分考慮了操作人員及設(shè)備的性。如過(guò)壓、過(guò)流、接地保護(hù)，試驗(yàn)平臺(tái)門(mén)開(kāi)啟保護(hù)。
工作原理
被測(cè)試的薄膜卷置于放卷臂上，通過(guò)絕緣導(dǎo)向輥將被測(cè)試的薄膜牽引至收卷臂上，伺服電機(jī)驅(qū)動(dòng)收卷臂使被測(cè)試的薄膜移動(dòng)，構(gòu)成走膜裝置。通過(guò)固定在速度檢測(cè)輥的增量光電編碼器檢測(cè)薄膜移動(dòng)長(zhǎng)度，根據(jù)被測(cè)試薄膜的寬度設(shè)定測(cè)試寬度，從而算出被測(cè)試的薄膜測(cè)試面積。測(cè)試的直流電壓正極接在導(dǎo)電橡膠安裝軸上，通過(guò)導(dǎo)電橡膠與移動(dòng)的薄膜一面接觸，形成上電極。移動(dòng)的薄膜另一面與構(gòu)成下電極的銅輥接觸，銅輥通過(guò)漏電流采樣電阻與直流電壓負(fù)極連接，導(dǎo)電橡膠與銅輥構(gòu)成加壓裝置。由走膜裝置、絕緣導(dǎo)向輥、速度檢測(cè)輥等構(gòu)成被測(cè)試薄膜的面積檢測(cè)系統(tǒng)；由加壓裝置、漏電流采樣電阻等構(gòu)成被測(cè)試薄膜的電弱點(diǎn)檢測(cè)系統(tǒng)。
華測(cè)生產(chǎn)的電弱點(diǎn)測(cè)試儀經(jīng)過(guò)實(shí)踐驗(yàn)證，穩(wěn)定可靠，目前廣泛應(yīng)用于電氣絕緣材料的電弱點(diǎn)測(cè)試
華測(cè)HCRD-300型電弱點(diǎn)測(cè)試儀采用計(jì)算機(jī)控制，進(jìn)而達(dá)到人機(jī)對(duì)話(huà)的方式，主要用于電容器用聚脂薄膜、聚丙稀薄膜的電弱點(diǎn)
可按用戶(hù)要求訂制非標(biāo)產(chǎn)品
華測(cè)儀器--致力于材料電學(xué)測(cè)試技術(shù)