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塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng)- 絕緣電阻劣化（離子遷移）評(píng)估系統(tǒng) 儲(chǔ)能新材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 半導(dǎo)體封裝材料真空探針臺(tái) 空間電荷測(cè)試系統(tǒng) 電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng) 高頻高壓絕緣電阻、介電 多通道極化裝置 鐵電分析儀 高壓功率放大器 絕緣電阻率測(cè)試儀 高低溫冷熱臺(tái)測(cè)試系統(tǒng) 50點(diǎn)耐壓測(cè)試儀 電壓擊穿測(cè)定儀 耐電弧試驗(yàn)儀 探針臺(tái) 漏電起痕試驗(yàn)儀 多通道介電與電阻測(cè)試系統(tǒng)
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激光測(cè)振儀 傳感器多功能綜合測(cè)試系統(tǒng) 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng) 長(zhǎng)期耐腐蝕老化試驗(yàn)平臺(tái)- 高電場(chǎng)介電、損耗、漏電流測(cè)試系統(tǒng) 阻抗分析儀 鐵電綜合材料測(cè)試系統(tǒng) 鐵電分析儀 高壓功率放大器 D33壓電系數(shù)測(cè)試儀 高溫介電溫譜測(cè)試儀 熱釋電測(cè)試儀 TSDC熱刺激電流測(cè)試儀 高壓極化裝置 高低溫冷熱臺(tái) 簡(jiǎn)易探針臺(tái) 高溫四探針測(cè)試儀 多通道電流采集系統(tǒng) 高真空退火爐 電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 高溫管式爐測(cè)試儀 漆包線擊穿耐壓試驗(yàn)儀 電化學(xué)遷移測(cè)試系統(tǒng) 水平垂直燃燒測(cè)定機(jī) 陶瓷材料閃燒試驗(yàn)裝置 導(dǎo)通電評(píng)估系統(tǒng) 差熱分析儀 醫(yī)用接地電阻
手動(dòng)探針臺(tái)的應(yīng)用范圍
手動(dòng)探針臺(tái)的應(yīng)用范圍
HCMP微型真空探針臺(tái)手動(dòng)探針臺(tái)是一款專門(mén)用于材料電學(xué)表征和測(cè)量的微型桌面型電學(xué)測(cè)量臺(tái)，主要用于介電、壓電、鐵電、熱釋電、光電等材料的電學(xué)表征和測(cè)量，還可以在真空、氣氛環(huán)境下對(duì)材料進(jìn)行電學(xué)測(cè)量評(píng)估，是實(shí)驗(yàn)室測(cè)量薄膜材料電學(xué)材料常用工具，廣泛用于高校、科研、航天航空、軍工院所等領(lǐng)域。
功能特點(diǎn)：
1、無(wú)人機(jī)外觀設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)，讓低溫探針臺(tái)小巧精密；
2、XYZ三維移動(dòng)平臺(tái)的開(kāi)發(fā)，位移分辨率10um以下；
3、電聲制冷機(jī)制冷加熱一體化平臺(tái)應(yīng)用開(kāi)發(fā)；
4、液氮制冷加熱一體化平臺(tái)應(yīng)用開(kāi)發(fā)；
5、利用機(jī)械彈性設(shè)計(jì)，低溫環(huán)境下也有彈性，避免在探針壓薄膜樣品是損壞薄膜；
6、實(shí)現(xiàn)-160℃~450℃的制冷和加熱測(cè)量環(huán)境，控溫精度達(dá)到±0.5℃；
7、采用1000X放大鏡顯微鏡設(shè)計(jì)，有利于實(shí)時(shí)觀察樣品的測(cè)量狀態(tài)；
8、廣泛用于復(fù)雜、高速器件的精密電器測(cè)量，可靠性高；
9、高低溫平臺(tái)、測(cè)量夾具、測(cè)量軟件等集成于一體，讓操作變得簡(jiǎn)單；
10、可以通過(guò)USB傳輸數(shù)據(jù)，數(shù)據(jù)格式為Excel格式。
應(yīng)用場(chǎng)景：晶圓芯片高低溫測(cè)試
測(cè)試類(lèi)型：IV/CV/RF
樣品臺(tái)：4英寸
溫度范圍：77K-673K
真空度：10E-4Pa
顯微鏡類(lèi)型：?jiǎn)瓮病Ⅲw視、金相顯微鏡
探針臂數(shù)量：2-6個(gè)
探針臂移動(dòng)：50mm*50mm*50mm
測(cè)試接口：BNC三同軸
測(cè)試精度：100fA
可搭配儀器：源表、半導(dǎo)體參數(shù)分析儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀、示波器等。
應(yīng)用范圍：
晶圓、芯片、LED測(cè)試、高低溫測(cè)試、場(chǎng)晶體管、IGBT、分立器件等測(cè)試類(lèi)型:IV/CV測(cè)試、RF測(cè)試 光電測(cè)試等搭配儀器:吉時(shí)利2400系列、4200系列、安捷倫B2900系列、1500系列等特點(diǎn):超高真空環(huán)境、避免氧化、結(jié)霜，77K-675K溫度測(cè)試范圍，外置探針臂操作更穩(wěn)定、精準(zhǔn)，可兼容不同類(lèi)型顯微鏡滿足不同觀察要求、可滿足光譜測(cè)試、液氮開(kāi)循環(huán)制冷，降低研發(fā)成本，模塊化設(shè)計(jì)、后期可無(wú)縫升級(jí)配置。