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[供應(yīng)]SQ-HTP探針式高溫電輸運(yùn)測(cè)量系統(tǒng)(電容、電感、電阻、 阻抗、電抗、導(dǎo)納、電納、

貨物所在地:北京北京市

產(chǎn)地:北京

更新時(shí)間:2024-08-20 12:01:21

有效期:2024年8月20日 -- 2025年2月19日

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SQ-HTP探針式高溫電輸運(yùn)測(cè)量系統(tǒng)

SQ-HTP探針式高溫電輸運(yùn)測(cè)量系統(tǒng)

     

高溫測(cè)試平臺(tái)

 

 

                                數(shù)據(jù)分析軟件(一)

     產(chǎn)品介紹:

目前國(guó)內(nèi)研究材料高溫電運(yùn)輸特性越來越廣泛,如何得到同一溫度下材料的各種參數(shù)變的相當(dāng)重要,SQ-HTP探針式高溫電輸運(yùn)測(cè)量系統(tǒng)將高溫環(huán)境與溫度控制、樣品安裝與探針調(diào)節(jié)設(shè)計(jì)于一體,可分析材料的介電、熱釋電、溫度弛豫、電弛豫等電輸運(yùn)特性。整套系統(tǒng)包括了高溫探針,高溫探針平臺(tái),高溫點(diǎn)運(yùn)輸測(cè)量系統(tǒng),是從事陶瓷、半導(dǎo)體、電介質(zhì)等電子功能材料電輸運(yùn)性質(zhì)研究的理想測(cè)試工具。該儀器在目前國(guó)內(nèi)高等院校及材料實(shí)驗(yàn)場(chǎng)所已經(jīng)廣泛應(yīng)用,并取的很好的測(cè)試效果,為科學(xué)研究及生產(chǎn)提供了重要的數(shù)據(jù)。

主要測(cè)試項(xiàng)目:

  1. 電容、電感、電阻、 阻抗、電抗、導(dǎo)納、電納、電導(dǎo)、損耗、相位角、品質(zhì)

因數(shù)等。

2.測(cè)試與分析這些參數(shù)隨頻率、溫度、電平、偏置電壓的變化關(guān)系;

3.為分析材料溫度特性、頻率響應(yīng)等提供基礎(chǔ)數(shù)據(jù)。

4. 可分析材料的介電、熱釋電、溫度弛豫、電弛豫等電輸運(yùn)特性。

5. 可同時(shí)對(duì)頻率、溫度、電平、偏壓等參數(shù)選擇單點(diǎn)/多點(diǎn)/掃描設(shè)置;

主要技術(shù)指標(biāo)如下:

高溫電輸運(yùn)測(cè)量系統(tǒng)軟件

 

交互式完成系統(tǒng)設(shè)置、測(cè)試方案設(shè)計(jì)、數(shù)據(jù)測(cè)量、數(shù)據(jù)與圖形實(shí)時(shí)顯示、數(shù)據(jù)保存、數(shù)據(jù)分析等功能。

♦系統(tǒng)主界面(校準(zhǔn)與配置):
•設(shè)置高溫爐及阻抗分析儀參數(shù);
•測(cè)試上機(jī)位與下機(jī)位的通訊;
•開路、短路、負(fù)載校正;
•啟動(dòng)與停止高溫爐的運(yùn)行。

♦測(cè)量方案、參數(shù)設(shè)置界面
•頻率:選擇單點(diǎn)/多點(diǎn)/掃描
     (等分/步長(zhǎng)/對(duì)數(shù))設(shè)置
•電平:選擇單點(diǎn)/多點(diǎn)/掃描
     (等分/步長(zhǎng))設(shè)置
•偏壓:選擇單點(diǎn)/多點(diǎn)/掃描
     (等分/步長(zhǎng))設(shè)置
•溫度:不使用、使用
     (單點(diǎn)/多點(diǎn)/掃描(等分/步長(zhǎng)))設(shè)置
•測(cè)量參數(shù):通過下拉框選擇需要的測(cè)量參數(shù)

♦系統(tǒng)測(cè)量與顯示界面
選擇測(cè)試方案,可選擇X軸(頻率/電平/偏壓/溫度),啟動(dòng)測(cè)量,可暫停/繼續(xù)/退出測(cè)量,可切換為主副參數(shù)坐標(biāo),實(shí)時(shí)顯示溫度,顯示圖形保存。

♦數(shù)據(jù)保存界面
實(shí)時(shí)顯示與保存包括測(cè)試方案信息在內(nèi)的測(cè)試數(shù)據(jù),系統(tǒng)zui大記錄數(shù)只受EXCEL表格的限制。

♦數(shù)據(jù)分析界面
打開測(cè)試的數(shù)據(jù)庫(kù)文件,選擇相應(yīng)的數(shù)據(jù)區(qū)間,選擇要分析的功能,單擊開始分析,即可完成分析,保存分析結(jié)果圖形。

產(chǎn)品選型

型號(hào)

SQ-ETS200

SQ-HTP206

SQ-ETS208

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V|Vi|F

V|Vi|F

T|V|Vi|F

zui高溫度(℃)

室溫

600

800

 

   高溫探針

連接樣品與測(cè)試電纜組件。
♦包括常溫和高溫兩類。與高溫2|4探針平臺(tái)和常溫2|4探針平臺(tái)配套使用。
♦選用高品質(zhì)標(biāo)準(zhǔn)SMA連接頭,連接可靠,信號(hào)穩(wěn)定;
♦高溫探針內(nèi)導(dǎo)體選用耐高溫材料,外導(dǎo)體(屏蔽層)選用耐高溫抗氧化不銹鋼,中間絕緣體選用剛玉陶瓷。探針具有很好的高溫性能;內(nèi)外導(dǎo)體具有很好的同心度,使因探針引起的測(cè)量誤差降到zui低,有較寬的測(cè)試頻率范圍;
♦常溫探針內(nèi)導(dǎo)體選用鎢鋼,外導(dǎo)體(屏蔽層)選用304不銹鋼,中間絕緣體選用剛玉陶瓷。內(nèi)外導(dǎo)體具有很好的同心度,使因探針引起的測(cè)量誤差降到zui低,有較寬的測(cè)試頻率范圍;
♦針尖大小可根據(jù)用戶的需要訂制加工。

 

產(chǎn)品選型

型號(hào)

SQ-HTP1200

SQ-HTP3200

SQ-HTP1206

SQ-HTP3206

SQ-HTP1208

SQ-HTP3208

針尖半徑(MM)

0.1

0.3

0.1

0.3

0.1

0.3

zui高溫度(℃)

室溫

室溫

600

600

800

800

 

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