全面升級：美國CID公司新的植物冠層分析儀CI-110

美國CID公司從成立之初一直秉承輕便、操作簡單的設(shè)計(jì)理念，開發(fā)和制造適合田間林地測量的儀器。CID公司的儀器，輕便的設(shè)計(jì)讓客戶可以解放自己的雙手，便于在田間或林地使用，科學(xué)嚴(yán)謹(jǐn)?shù)膽B(tài)度保證數(shù)據(jù)測量的科學(xué)性和準(zhǔn)確性。新的植物冠層分析儀CI-110經(jīng)過近一年的設(shè)計(jì)和不斷的改進(jìn)，終于在今日面世。它進(jìn)行了全面的升級，不僅僅繼承了之前的可視化功能，而且摒棄了之前的必須連接電腦不便之處，單手就可以在林地、田間測量植物冠層，非常的便捷。

新的植物冠層分析儀CI-110利用高清的魚眼鏡頭和CCD圖像傳感器來獲取植物冠層圖像。通過專業(yè)軟件分析，獲得植物冠層的葉面積指數(shù)（LAI）和冠層其它的參數(shù)；自動(dòng)水平數(shù)字相機(jī)獲取150°的冠層圖像，手柄上24個(gè)PAR傳感器測量光合有效輻射并計(jì)算光斑。CI-110圖像法測量植物冠層，僅僅獲取一次冠層圖像即可，簡化了傳統(tǒng)能量法要一天定點(diǎn)多次測量的繁復(fù)工作；同時(shí)可以躲開障礙物，選擇合適測量點(diǎn)。

新的CI-110分析軟件不僅可顯示PAR光合儀有效輻射、Sunfleck值、GPS信息，還可以進(jìn)行天頂角和方位角的分區(qū)，可以獲得不同區(qū)域內(nèi)的太陽直接輻射、消光系數(shù)、葉片的方位分布等參數(shù)。

新的CI-110性能更佳，操作更佳簡便，為客戶提供科學(xué)的、的數(shù)據(jù)分析，我們非常歡迎新老客戶前來咨詢。