四探針電阻率測(cè)試步驟流程

四探針電阻率測(cè)試步驟流程

半導(dǎo)體采用四探針?lè)y(cè)試電阻率及電導(dǎo)率，他的性質(zhì)在一般情況下，半導(dǎo)體電導(dǎo)率隨溫度的升高而減小，這與金屬導(dǎo)體恰好相反。

上述特征的材料都可歸入半導(dǎo)體材料的范圍。反映半導(dǎo)體材料內(nèi)在基本性質(zhì)的卻是各種外界因素如光、熱、磁、電等作用于半導(dǎo)體而引起的物理效應(yīng)和現(xiàn)象，這些為半導(dǎo)體材料的半導(dǎo)體性質(zhì)。

半導(dǎo)體材料分為元素半導(dǎo)體、無(wú)機(jī)化合物半導(dǎo)體、有機(jī)化合物半導(dǎo)體和非晶態(tài)與液態(tài)半導(dǎo)體。

備制不同的半導(dǎo)體器件對(duì)半導(dǎo)體材料有不同的形態(tài)要求，包括單晶的切片、磨片、拋光片、薄膜等。半導(dǎo)體材料的不同形態(tài)要求對(duì)應(yīng)不同的加工工藝。

半導(dǎo)體材料的特性參數(shù)對(duì)于材料應(yīng)用甚為重要。不同的特性半導(dǎo)體材料決定不同的用途。

下面就半導(dǎo)體材料四探針電阻率測(cè)試儀給大家介紹下操作流程及操作步驟，就FT-341四探針電阻率測(cè)試儀為例，來(lái)做詳細(xì)的介紹：

1. 先備制好樣品，樣品一般需要在恒定的環(huán)境下放置一定的時(shí)間，來(lái)保證樣品性質(zhì)的一致性。
2. 開(kāi)機(jī)預(yù)熱，并準(zhǔn)備好電腦開(kāi)啟PC軟件，及固定好測(cè)試平臺(tái)的調(diào)節(jié)，探頭。
3. 將樣品放置于平臺(tái)上，并將旋轉(zhuǎn)上下調(diào)節(jié)旋鈕將探頭探針調(diào)節(jié)并壓著樣品表面。
4. 此時(shí)需要在顯示器上設(shè)置好測(cè)試條件，包括：測(cè)試電壓，電流、探針間距、通訊方式選擇、探針間距等相關(guān)數(shù)據(jù)。
5. 結(jié)果的輸出為：電阻（方阻）、電阻率、電導(dǎo)率等相關(guān)數(shù)據(jù)
6. 由于所有的修正數(shù)據(jù)已經(jīng)寫入軟件，則，無(wú)需使用者做復(fù)雜的計(jì)算，全部由程序來(lái)完成。