近場(chǎng)探頭EM5030（DC-3G）

近場(chǎng)探頭EM5030（DC-3G）是一款主要用于查找干擾源，判定干擾產(chǎn)生原因的高性價(jià)比近場(chǎng)探頭?？捎脕頇z測(cè)器件表面的磁場(chǎng)方向以及強(qiáng)度；檢測(cè)模塊附近的磁場(chǎng)環(huán)境。為了降低干擾，尋找到真正的干擾源或者是其傳播的途徑是非常有必要的

近場(chǎng)探頭EM5030（DC-3G）

 

概述：

近場(chǎng)探頭EM5030（DC-3G） 是一款主要用于查找干擾源，判定干擾產(chǎn)生原因的高性價(jià)比近場(chǎng)探頭。可用來檢測(cè)器件表面的磁場(chǎng)方向以及強(qiáng)度；檢測(cè)模塊附近的磁場(chǎng)環(huán)境。為了降低干擾，尋找到真正的干擾源或者是其傳播的途徑是非常有必要的，通過近場(chǎng)探頭測(cè)量可以很方便地實(shí)現(xiàn)定位功能。通過配合EM5020A(20dB增益)或者EM5020B(30dB增益)前置放大器可以提高系統(tǒng)測(cè)試靈敏度。

技術(shù)參數(shù)：

訂購信息：

          EM5030  近場(chǎng)探頭（3G）

標(biāo)準(zhǔn)配置：4根探頭、N型轉(zhuǎn)接頭、連接線、包裝箱；