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Jandel probes 四探針探頭工作原理

閱讀:1184          發(fā)布時(shí)間:2022-2-24

Jandel probes 四探針探頭

jandel四探針測(cè)試儀, 通過(guò)視頻檢測(cè)系統(tǒng)和光學(xué)干涉儀來(lái)驗(yàn)證規(guī)范探針半徑曲率、間距以及平面性(平面度/平整度), 其負(fù)荷是通過(guò)電子測(cè)力計(jì)來(lái)驗(yàn)證。并且每個(gè)探針都通過(guò)帶有寶石導(dǎo)向針進(jìn)行上下移動(dòng)。

Jandel公司生產(chǎn)的cartridge型四探針探頭可用在客戶已有的設(shè)備,一些vekko設(shè)備,一些vekk設(shè)備需要不同形狀的探頭,(緊湊的探頭).當(dāng)您無(wú)法確定使用哪種探頭時(shí),請(qǐng)跟赫爾納貿(mào)易大連聯(lián)絡(luò).所有jandel公司生產(chǎn)的探頭具有非常高的機(jī)械精度。通過(guò)視頻檢測(cè)系統(tǒng)和光學(xué)干涉儀來(lái)驗(yàn)證規(guī)范探針半徑曲率、間距以及平面性(平面度/平整度), 其負(fù)荷是通過(guò)電子測(cè)力計(jì)來(lái)驗(yàn)證。并且每個(gè)探針都通過(guò)帶有寶石導(dǎo)向針進(jìn)行上下移動(dòng)。



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