X射線熒光分析鍍層測厚儀是一款低成本高效率、快速可靠的鍍層厚度測量及材料分析設(shè)備。

行業(yè)

  鍍層測厚儀 在工業(yè)領(lǐng)域如電子行業(yè)、五金電鍍行業(yè)、金屬合金行業(yè)及貴金屬分析行業(yè)表現(xiàn)出的分析能力，可進(jìn)行多鍍層厚度的測量，鍍層測厚儀為這些行業(yè)提供了：

• 以更有效的過程控制來提高生產(chǎn)力
• 有助電鍍過程中的生產(chǎn)成本zui小化、產(chǎn)量zui大化
• 快速無損地分析珠寶及其他合金
• 快速分析多達(dá)4層鍍層
• 經(jīng)行業(yè)認(rèn)證的技術(shù)和可靠性，確保每年都帶來收益
• 操作簡單，只需要簡單的培訓(xùn)

鍍層測厚儀的性能

快速、精確的分析：

大面積正比計(jì)數(shù)探測器和牛津儀器50瓦微聚焦X射線光管（X射線光束強(qiáng)度大、斑點(diǎn)小，樣品激發(fā)佳）相結(jié)合，提供*靈敏度

簡單的元素區(qū)分：

通過次級射線濾波器分離元素的重疊光譜

性能優(yōu)化，可分析的元素范圍大：

 Ux-720鍍層測厚儀采用了華唯技術(shù)FlexFp -Multi，不在受標(biāo)準(zhǔn)樣品的限制，在無鍍層標(biāo)樣的情況下直接可以測試樣品的鍍層厚度，測試結(jié)果經(jīng)得起科學(xué)驗(yàn)證。

的長期穩(wěn)定性：

自動(dòng)熱補(bǔ)償功能測量儀器溫度變化并做修正，確保穩(wěn)定的測試結(jié)果

例行進(jìn)行簡單快 速的波譜校 準(zhǔn)，可自 動(dòng)檢查儀器性能（例如靈敏性）并進(jìn)行必要的修正

產(chǎn)品指標(biāo)：

測厚技術(shù)：X射線熒光測厚技術(shù)

測試樣品種類：金屬鍍層，合金鍍層

測量下限：0.003um

測量上限：30-50um（以材料元素判定）

測量層數(shù)：10層

測量用時(shí)：30-120秒

探測器類型：Si-PIN電制冷 

探測器分辨率：145eV

高壓范圍：0-50Kv，50W

X光管參數(shù)：0-50Kv，50W，側(cè)窗類；

光管靶材：Mo靶；

濾光片：3種自動(dòng)切換；

CCD觀察：260萬像素

微移動(dòng)范圍：XY15mm

輸入電壓：AC220V，50/60Hz

測試環(huán)境：非真空條件

數(shù)據(jù)通訊：USB2.0模式

準(zhǔn)直器：Ø1mm，Ø2mm，Ø4mm

軟件方法：FlexFP-Mult

工作區(qū)：開放工作區(qū) 自定義