此項工作是對此前介紹的空氣顆粒物(PM)濾膜檢測方法的改進。用一種新型 實驗室儀器實現(xiàn)空氣顆粒物(PM)濾膜的X射線駐波(XSW)及全反射X射線熒光(TXRF)檢測。同時進行XSW和TXRF檢測的主要優(yōu)點是可以區(qū)分樣品的性質(zhì)：小液滴干燥殘留物、薄膜樣品或大塊樣品；另一方面，它選擇合適的全反射角進行TXRF測量。后，更換X射線源以檢測更輕及更重的元素(例如，X射線管陽極由Mo改為Cu)。本研究的目的是為空氣顆粒物(PM)濾膜的定量分析方法奠定理論基礎(chǔ)，通過外標(biāo)法手段提高度和效率。所提出和探討的理論模型表明，空氣顆粒物(PM)濾膜可以看作是薄膜樣品。在實驗室中制備一組參考樣品，用于繪制校準(zhǔn)曲線。結(jié)果表明，本文提出的空氣顆粒物(PM)濾膜定量檢測方法經(jīng)濟可靠、無需對濾膜進行消解即可進行定量分析，利用XSW方法提高了TXRF分析的度。

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