德國菲希爾XAN250高性能X射線熒光測厚儀

高性能X射線熒光測量儀，配有良好的硅漂移探測器(SDD)，可快速、無損地進(jìn)行RoHS檢測、材料分析和鍍層厚度測量。

特點(diǎn)

高性能機(jī)型，具有強(qiáng)大的綜合測量能力

配有4 個(gè)電動(dòng)調(diào)節(jié)的準(zhǔn)直器和6個(gè)電動(dòng)調(diào)節(jié)的基本慮片

配備高分辨率硅漂移探測器 (SDD)，還適用于更復(fù)雜的多元素分析

由下至上的測量方向，可以非常簡便地實(shí)現(xiàn)樣品定位 

典型應(yīng)用領(lǐng)域

對電子和半導(dǎo)體行業(yè)中僅幾個(gè)納米的功能性鍍層進(jìn)行測量

對有害物質(zhì)進(jìn)行痕量分析，例如，玩具中的鉛含量

在珠寶和手表業(yè)，以及在金屬精煉領(lǐng)域，對合金進(jìn)行高精度的分析

用于高校研究和工業(yè)研發(fā)領(lǐng)域