北京中慧天誠(chéng)科技有限公司

電阻測(cè)試儀

時(shí)間:2014-10-13閱讀:640
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電阻測(cè)試儀
型號(hào):VSN/AT-5112
貨號(hào):ZH5363
產(chǎn)簡(jiǎn):
電阻測(cè)試儀是針對(duì)熱敏電阻的雙路測(cè)試儀,內(nèi)置2路電阻測(cè)試電路,可同時(shí)對(duì)標(biāo)準(zhǔn)PTC和被測(cè)PTC進(jìn)行測(cè)試得出差值并換算成實(shí)際值,忽略PTC的自身溫度敏感特性,達(dá)到測(cè)試,測(cè)試誤差小于0.1Ω,準(zhǔn)確度0.1%。
采樣微處理器控制的可實(shí)現(xiàn)不開(kāi)蓋校準(zhǔn),其zui高測(cè)試速度高達(dá)50次/秒,論是人工測(cè)試或是自動(dòng)化測(cè)試都應(yīng)付自如。
規(guī)格:
測(cè)試準(zhǔn)確度:0.3%
測(cè)試范圍:0~100Ω
測(cè)試電流:1mA
雙路同時(shí)測(cè)試:標(biāo)準(zhǔn)件和被測(cè)件同時(shí)檢測(cè)
性能特征:
內(nèi)置比較器設(shè)置
可選Handler接口
應(yīng)用:
PTC熱敏電阻的測(cè)試

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