全聚焦(TFM)無(wú)損檢測(cè)時(shí)5個(gè)需要避免的問(wèn)題
超聲波用于工業(yè)無(wú)損檢測(cè)(NDT)已有一個(gè)世紀(jì)左右的歷史。早期的超聲波檢測(cè)(UT)涉及單元件傳感器,這是一種相對(duì)簡(jiǎn)單的技術(shù),至今仍在使用,足以滿足許多應(yīng)用。
隨著時(shí)間的推移,技術(shù)也在進(jìn)步。利用多元素探針和功能更強(qiáng)大的電子和軟件,提高了檢測(cè)性能和效率。這就導(dǎo)致了相控陣超聲檢測(cè)(PAUT)的出現(xiàn),這是一種現(xiàn)在被廣泛接受和應(yīng)用的技術(shù),盡管它需要比傳統(tǒng)的UT更多的培訓(xùn)來(lái)完成這項(xiàng)工作。
全聚焦方法(TFM)在復(fù)雜性上又向前邁進(jìn)了一大步。它利用了多元素探測(cè)技術(shù),但TFM所需的數(shù)據(jù)是使用全矩陣捕獲(FMC)方法獲取的。FMC是一種更全面的波束發(fā)射和接收策略,可以產(chǎn)生大量的數(shù)據(jù)。
觀看這個(gè)短視頻,了解更多關(guān)于FMC和TFM的基本原理
TFM成像依賴于對(duì)大量FMC數(shù)據(jù)的處理,因此它被認(rèn)為是一種慢速技術(shù),只適用于二次、更有針對(duì)性的驗(yàn)證。在使用和試驗(yàn)TFM一段時(shí)間后,我提出了一些注意事項(xiàng),希望能夠消除對(duì)這種相對(duì)較新的NDT方法的一些假設(shè)。
1. 避免認(rèn)為一種模式適合所有模式
如果你像我一樣帶著PAUT背景來(lái)TFM,你可能對(duì)脈沖回波(P/E)技術(shù)非常熟悉。光束路徑很容易用脈沖回波來(lái)理解。在P/E首段檢測(cè)中,來(lái)自探頭的聲束脈沖,傳播到缺陷,反射缺陷,再傳播回探頭。在第二回合檢查中,后墻會(huì)有一個(gè)額外的彈跳。
對(duì)于TFM,光束路徑的概念不是那么簡(jiǎn)單。為了生成TFM圖像,采集儀器利用FMC數(shù)據(jù)對(duì)波束路徑進(jìn)行綜合重建。通過(guò)組合不同的波型(縱向或橫向)和波路徑的不同分支,該儀器為您提供多達(dá)10種TFM模式(也稱為波組)的選擇-例如,TTT, TLT,或TTTT。
要破譯這些TFM波組,要知道每個(gè)字母代表旅程的一段,以及這一段的傳播模式- t代表橫向,L代表縱向。TFM波組可以有額外的反彈,我們不習(xí)慣看到與相控陣脈沖回波。一些儀器,如OmniScan X3探測(cè)儀,甚至有一個(gè)5T波組(TT-TTT)的選擇。
有了所有這些選項(xiàng),您如何選擇合適的波集(或波集)進(jìn)行檢查?以下是一些需要考慮的重要因素:
•缺陷類型
•缺陷位置
•曲率或部分幾何
這些特性,無(wú)論是目標(biāo)缺陷還是被檢測(cè)部分,都會(huì)影響到每個(gè)波組的檢測(cè)能力。
為了證明這一點(diǎn),我提供了一個(gè)焊接ID裂紋的不同TFM圖像的例子。
我的第一個(gè)例子顯示了在OmniScan X3顯示器上使用脈沖回波模式的TTTT波(類似于PAUT第二支腿檢查)時(shí)的信號(hào)響應(yīng)。
雖然檢測(cè)到一些信號(hào),但信號(hào)不是最佳的,而且有可能忽略這個(gè)指示?,F(xiàn)在,如果我們?cè)谕粋€(gè)ID裂縫上切換到自串聯(lián)模式的TTT波設(shè)置,突然顯示“彈出"的指示!
在這種情況下,聲波在擊中內(nèi)徑裂紋反射器之前從后壁反射回來(lái),與裂紋垂直度要大得多,所以TTT波對(duì)裂紋進(jìn)行了漂亮的成像!(就像傳統(tǒng)的UT一樣,你希望反射盡可能接近90°。)
對(duì)于ID裂紋,這兩種TFM模式提供了截然不同的檢測(cè)結(jié)果。對(duì)于不同深度和不同方向的不同反射器也是如此。一種模式通常不足以覆蓋所有場(chǎng)景。
額外提示:確保你的速度和厚度參數(shù)是準(zhǔn)確的
這里,如果你來(lái)自PAUT背景,你可能有估計(jì)材料聲速的習(xí)慣。您可能想輸入標(biāo)準(zhǔn)的0.2320?;?890米/秒,今天就到此為止。然而,對(duì)于TFM,特別是使用帶有額外反彈的自串聯(lián)模式時(shí),我們不能冒險(xiǎn)猜測(cè)。
為了證明這一點(diǎn),當(dāng)嘗試使用TTT波集檢測(cè)ID裂縫時(shí),觀察2.5 m/s變化帶來(lái)的差異。
在半跳(TTT)速度值上的5%的差異會(huì)導(dǎo)致垂直缺口上的信號(hào)*丟失。這種對(duì)精度的要求也適用于零件的厚度和幾何形狀。如果輸入的厚度和幾何值不準(zhǔn)確,信號(hào)不再反彈到預(yù)期的位置,從而導(dǎo)致計(jì)算不準(zhǔn)確。
2. 確保你有正確的探針來(lái)聚焦TFM區(qū)域
全聚焦方法(TFM)成像也有在整個(gè)TFM區(qū)域提供均勻焦點(diǎn)的聲譽(yù)。然而,這并不*正確。TFM與相控陣和常規(guī)UT具有相同的物理規(guī)律。例如,儀器的TFM成像性能取決于相控陣探頭的能力。
就像PA和UT一樣,探測(cè)器的物理特性,如元件尺寸和頻率,都會(huì)影響其光束特性(即近場(chǎng)長(zhǎng)度、光束直徑、光束擴(kuò)散角等),這些特性也會(huì)對(duì)TFM區(qū)聚焦產(chǎn)生影響??匆幌?/p>
在博客文章“哪種相控陣探頭適合你的全聚焦方法檢查?"中了解更多關(guān)于TFM的影響探頭的選擇。
3.不要低估振幅保真度的重要性
什么是振幅保真度,為什么這個(gè)術(shù)語(yǔ)是TFM的流行詞?
振幅保真度(AF)是由TFM網(wǎng)格分辨率引起的指示的最大振幅變化的測(cè)量(以分貝為單位)。簡(jiǎn)而言之:這個(gè)值決定了在你的圖像質(zhì)量變得太像素化以至于不能清楚地看到缺陷之前網(wǎng)格的粗糙程度。通過(guò)調(diào)整對(duì)焦,你要確保像素的大小適合波長(zhǎng)的大小。像素的大小與超聲光束波長(zhǎng)的比例是很重要的。就像在PAUT中數(shù)字化頻率過(guò)低時(shí),可能會(huì)錯(cuò)過(guò)信號(hào)的峰值,在TFM中,太大的像素可能意味著看不到指示的峰值振幅。
影響振幅保真度的因素有很多:探測(cè)頻率和帶寬、材料速度、網(wǎng)格分辨率、應(yīng)用包絡(luò)線等等。規(guī)范TFM的檢驗(yàn)規(guī)范(例如ASME)通常建議振幅保真度不超過(guò)2分貝(dB)。
你怎么知道你的AF是否超過(guò)了最佳水平?簡(jiǎn)單:只要看看AF讀數(shù),如OmniScan X3探傷器為你計(jì)算它。此外,OmniScan X3單元的TFM包膜功能使更快的采集速率比標(biāo)準(zhǔn),振蕩TFM渲染,同時(shí)保持最佳的振幅保真度(AF)設(shè)置,所以確保嘗試包膜,下次你努力獲得正確的AF!
“全聚焦方法與包絡(luò)特征的使用"中了解我們的創(chuàng)新TFM信封。
4. 充分利用波浪路徑模擬器和建模工具
使用您可以使用的所有軟件工具來(lái)預(yù)測(cè)TFM檢查的結(jié)果。
在開(kāi)始TFM檢查之前,請(qǐng)使用模擬器(如聲學(xué)影響圖(AIM)建模工具)驗(yàn)證給定探頭、楔形物和波組組合的可達(dá)到的覆蓋范圍和靈敏度。AIM工具還考慮了目標(biāo)缺陷類型和探頭的角度偏移。用它檢查所有的波集,并在不同的反射器上測(cè)試每一個(gè),直到你找到一個(gè)。
AIM振幅圖的顏色可以清楚地顯示TFM波組在感興趣區(qū)域(ROI)的覆蓋范圍。
紅色區(qū)域表示超聲響應(yīng)很好,最大振幅在0 ~ 3 dB之間變化。橙色區(qū)域與最大振幅相差3db ~?6dB。?6dB ~?9db之間黃色區(qū)域,以此類推。
通過(guò)觀看本次網(wǎng)絡(luò)研討會(huì),了解更多關(guān)于AIM的使用:聲學(xué)影響圖(AIM)——用于TFM檢測(cè)的建模工具。
5. 使用多種模式來(lái)優(yōu)化你的覆蓋范圍
最后,但并非最不重要的是,一些儀器可以讓你在同一時(shí)間使用多種模式!例如,您可以在OmniScan X3屏幕上同時(shí)運(yùn)行和顯示多達(dá)四種TFM模式的結(jié)果。利用這一點(diǎn)來(lái)幫助你確保你不會(huì)錯(cuò)過(guò)任何未被懷疑的缺陷!